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NaioAFM原子力显微镜 电子显微镜

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称上海纳嘉仪器有限公司
  • 品       牌
  • 型       号NaioAFM
  • 所  在  地
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2023/12/12 9:06:33
  • 访问次数457
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上海纳嘉仪器有限公司专业致力于销售各种科研测试类仪器与技术服务,主要代理公司的微纳米级表面测量产品,着力为各高校,研究所以及高科技公司等单位提供集产品、应用和服务于一体的整体解决方案! 上海纳嘉仪器有限公司主要代理多款微纳米级别表面测量仪器:原子力显微镜&扫描探针显微镜,探针式轮廓仪(台阶仪,三维光学轮廓仪,色散共焦轮廓仪,光谱式椭偏仪,反射干涉仪以及各种仪器耗材等。 我们秉承“为合作伙伴创造价值”的核心价值观,并以“诚实、宽容、创新、服务”为企业精神,通过自主创新和真诚合作为行业创造价值。 关于“为合作伙伴创造价值” 我们认为客户、供应商、公司股东、公司员工等一切和自身有合作关系的单位和个人都是自己的合作伙伴,并只有通过努力为合作伙伴创造价值,才能体现自身的价值并获得发展和成功。 关于“诚实、宽容、创新、服务” 我们认为诚信是一切合作的基础,宽容是解决问题的前提,创新是发展事业的利器,服务是创造价值的根本。
数码显微镜
NanosurfNaioAFM型原子力显微镜小样品或纳米教学领域的优质的微型原子力显微镜●一体化的即插即用的微型原子力显微镜(AFM)●使用简单,●所有的标准操作模式都可用NaioAFM是纳米教学和小样品基础研究的理想原子力显微镜
NaioAFM原子力显微镜 电子显微镜 产品信息

Nanosurf NaioAFM 型原子力显微镜

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小样品或纳米教学领域的优质的微型原子力显微镜

● 一体化的即插即用的微型原子力显微镜(AFM)
● 使用简单,
● 所有的标准操作模式都可用


NaioAFM 是纳米教学和小样品基础研究的理想原子力显微镜。 一体化的微型NaioAFM原子力显微镜提供了优质可靠的性能却操作方便,价格亲民,结构小巧,适合于任何人和任何场合。


几分钟内就可以开始测量

使用NaioAFM原子力显微镜, 仅需插上电源和USB线,启动界面友好的软件,几分钟内就可以开始工作,省掉了仪器设置的时间和麻烦,观看我们的OVERVIEW 视频你就可以知道。 因为NaioAFM带有悬臂校准芯片,探针更换也变得更加简单,繁琐的激光调节也不再需要。 观看悬臂更换视频你就可以发现换针是如此的方便。


NaioAFM 成像模式

以下描述为仪器所具备的所有模式。某些模式可能需要其他组件或软件选项。详情请浏览宣传册或直接联系我们


●标准成像模式

静态力模式

动态力模式(轻敲模式)

相位成像模式


●磁性能

磁力显微


●电性能

导电探针 AFM (C-AFM)

静电力显微 (EFM)

扫描扩散电阻显微(SSRM)


●机械特性

力谱

力调制

刚度和模量

附着力

力映射


●其它测量模式

光刻和纳米加工


NaioAFM的应用示例

聚合物混合物的 AFM 相位成像

这是在 NaioAFM 上看到的聚合物混合物的 AFM 相位成像示例。聚合物混合物由沉积在硅上的聚苯乙烯(PS)和聚氯二苯乙烯(PB)组成。PS 在 PB 矩阵中形成孤岛。

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用AFM进行ePTFE膜表面形貌分析

ePTFE是膨胀聚氟乙烯的缩写,也称为Teflon。它的机械和医学特性很大程度上取决于Teflon是如何膨胀的(单轴或双轴)以及由此产生的ePTFE网络结构。 ePTFE由于其在人体内的惰性特性,常被用作植入材料。网状结构中的空隙鼓励软组织生长到这样的植入体中,这有助于快速地保持植入体的位置。聚四氟乙烯有许多不同的膨胀方式,都会导致不同的网络结构。因此,至关重要的是要验证在膨胀过程之后是否获得了所需的ePTFE结构。


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在此应用中,我们使用AFM对ePTFE膜进行了分析。所记录的形貌图像清楚地显示了样品复杂的网络结构。利用集成在Nanosurf控制软件中的测量工具,可以方便地分析纤维的长度和结的尺寸分布。与传统的分析方法-扫描电镜成像法SEM相比,金膜必须首先在真空中蒸发到 ePTFE 样品上,使其导电才能进行操作 - 用AFM 则快得多,也更容易执行。使用AFM,可以直接在ePTFE上测量,无需事先对样品进行处理。此外,与 SEM 数据相比,AFM 形貌图实际上包含定量的深度信息。


AFM 力谱仪用于聚合物分析

装有AFM的力谱仪可以对聚苯乙烯(PS)和聚丁二烯(PB)聚合物进行表征.数据分析或一组力距离曲线揭示了这两种成分材料性能的差异。

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PS-PB聚合物样品的不同区域的力-距离曲线。 顶部和底部面板分别显示 PB(顶部)和 PS(底部)上记录的力距离曲线。中图中的形貌图像中的箭头指示记录力距离曲线的位置。如顶图所示,可以从力距离曲线中提取不同的信息:接触区域的斜率、样品压痕、附着力,以及分离所需的功。斜率本身是样品刚度的粗略估计,即 PB 比 PS 软得多,因为接触区域的斜率较浅(参见红色三角形)。使用接触力学模型(如 DMT 模型)分析力距离曲线可显示样品的实际刚度。


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