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激光拉曼光谱

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称HORIBA 科学仪器事业部
  • 品       牌HORIBA
  • 型       号NANO Raman
  • 所  在  地上海市
  • 厂商性质生产厂家
  • 更新时间2025/2/27 9:36:51
  • 访问次数724
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成立于1819年,Jobin Yvon公司的总部设在高科技发达的法国首都――巴黎。在近二百年的发展中,Jobin Yvon公司始终遵循着创建以来的一贯宗旨——高品质,为客户提供优质产品:

 

 · 1900年 世博会上的干涉仪、光弹性测量仪      
 · 1962年 双级光谱仪和1400系列双级激光拉曼光谱仪以及计算机全控制荧光光谱仪  
 · 1968年 商品化全息光栅      
 · 1973年 相差校正全息光栅(荣获IR100奖)      
 · 1977年 拉曼分子显微探针(IR100奖),顺序扫描型ICP光谱仪    
 · 1975年 全计算机化光子计数拉曼光谱仪和全计算机化光子计数荧光光谱仪  
 · 1983年 离子刻蚀“闪耀”全息光栅    
 · 1985年 光栅型波分复用器    
 · 1989年 超级校正全息光栅和二维成像光谱仪    
 · 1996年 荣获法国CNRS佳椭偏仪奖    
 · 1998年 可配CCD检测器的Triax系列光谱仪(获激光仪诱导发光技术奖)    
 · 1998-1996年 收购美国品牌SPEX、法国Dilor和法国Sofie仪器公司    
 · 2001年 获得美国宇航局(NASA)颁发“宇宙起源摄谱仪光栅接触贡献奖”    
 · 2002年 世界FTIFR联用拉曼光谱仪,在Pittcon展会获得Editor佳新品奖  
 · 2002-2003年 收购德国Philips椭偏仪公司和IBH(英格兰)公司    
 · 2006年 美国宇航局(NASA)喷射推进实验室颁发“运行碳观测器(OCO)衍射光栅杰出贡献奖”

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HORIBA欧洲总部

 

自从1988年合并了美国SPEX公司和1995年合并了法国Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了仪器制造集团――HORIBA公司,完成了公司强强联手。

 

如今Jobin Yvon在法国、美国、日本、英国、意大利、荷兰设有生产厂家。现在Jobin Yvon公司除了提供各种类型的衍射光栅和离子刻蚀全息光栅外,还提供各种类型的光谱仪产品,如:激光拉曼光谱仪(Raman),荧光(寿命)光谱仪(FL),直读火花光谱仪(SPARK),电感耦合等离子发射光谱仪(ICP),辉光放电光谱仪(GDS),椭圆偏振光谱仪(Ellipsometry),特殊搭建系统(System)及各种光学光谱器件(成像光谱仪,光源,IR检测器,CCD检测器等)。

 

目前,HORIBA Jobin Yvon公司设立了薄膜部、拉曼(光谱仪)部、发射(光谱仪)部、荧光(光谱仪)部、法医部、光学仪器部、光栅&OEM仪器部等7个部门。旨在为您提供强大的技术支持与科研保障!

 

 

 

科学仪器:拉曼光谱分析,拉曼光谱设备,荧光光谱仪,粒度分布仪,粒度分析仪
产地 进口 产品新旧 全新
HORIBA NANO Raman激光拉曼光谱:随着扫描探针显微镜(SPM)在二十世纪八十年代的出现,大气环境中的纳米尺度成像成为了可能。该技术使材料表面各种物理特性的表征得以快速持续的发展,然而如何实现纳米尺度的的化学结构表征仍是一项挑战。
激光拉曼光谱 产品信息

 

随着扫描探针显微镜(SPM)在二十世纪八十年代的出现,大气环境中的纳米尺度成像成为了可能。该技术使材料表面各种物理特性的表征得以快速持续的发展,然而如何实现纳米尺度的的化学结构表征仍是一项挑战。

拉曼光谱为分子结构和化学组分分析提供了有效的解决方案,广泛应用于材料科学和生命科学领域。但是这种方法的空间分辨率在很大程度上受限于光学衍射限。

因此,将这两种技术结合是富吸引力和挑战性的,我们进入纳米光学的世界。在该领域,HORIBA Scientific 通过几十年的经验积累和努力,开发了一套 HORIBA NANO Raman 的整体解决方案,使其成为一个通用且功能强大、使用简便、快速可靠的分析工具。


HORIBA NANO Raman激光拉曼光谱

 

一、重要特征

 

1、多种样品分析平台

高分辨样品扫描器,扫描样品面积从纳米尺寸至样品台限

 

2、简便易操作

全自动操作,大缩短了测试时间

 

3、真共聚焦

高空间分辨率,自动成像平台,多种显微镜可视观察系统

 

4、高灵敏度

多只有三面反射镜,灵敏度和光通量得到大提高,提高设备稳定性

 

5、高光谱分辨率

多光栅自动切换,宽的光谱范围用于拉曼和 PL 测试

 

6、纳米尺度空间分辨率

通过针尖增加拉曼光谱 (TERS) 成像,实现 10nm 的空间分辨率

 

7、多种测试模式 / 多种环境

多种 SPM 模式,包括 AFM、导电 AFM、开尔文、STM 模式,可以子在液体和电化学环境下测试,通过 TERS 和 TEPL 技术,可同时获得化学信息成像通过一台电脑即可控制及使所有功能。另外,SPM和光谱仪也可以单独控制使用

 

8、稳定性

采用新一代 50 KHz 高频调制 SPM 扫描器,远离生活噪声,具有高信噪比和稳定性

 

9、灵活性

具有顶部、底部、侧向等多个方向拉曼探测能力,满足各方面应用研究需求

 

 

 

二、强有力的的物理、化学结构表征工具

 

HORIBA NANO Raman激光拉曼光谱功能强大

· 可同时进行 SPM 和拉曼光谱测试

· 顶部和侧向均可使用高数值孔径 ×100 物镜,使得同区域测量能获得更高的空间分辨率,针尖增强拉曼 (TERS) 具有高的信号收集效率

· 通过 SWIFT XS 和 EMCCD 探测器可以实现高通量信号收集能力和快速扫描速度

· 宽光谱范围:从深紫外到近红外

· 可选配 HORIBA 拉曼光谱仪系统以获得高光谱性能

 

2、操作简单、快速!

· 一键完成“悬臂梁 - 参考激光”对准及调谐频率优化,无需手动调整

· 换针尖时无需移动样品,换完针尖后还能很容易回到原来样品位置

· 通过物镜扫描器自动完成拉曼激光与 TERS 针尖耦合

· 通过一台电脑即可*控制

 

 

三、操作简单的TERS系统

 

1、稳定的 AFM-TERS 针尖

拉曼和扫描探针显微镜可以偶联成为一套系统,同Omni TM 型号的 TERS 探针,可同时获取样品表面形貌和 TERS 光谱。

HORIBA NanoRaman 系统结合 Omni TM 的 TERS 针尖提供了理想的增强方案。

 

· 适用不同方向的 TERS 耦合 : 顶部、侧向和底部

· 多层结构:针尖优化小化的减少硅衬底中光谱干扰

· 惰性气体包装延长针尖的使用寿命

· 具有特殊保护层的 Ag 针尖能够防止大气环境下氧化

 

2、如何实现 TERS

在 TERS 系统,拉曼激光1聚焦到镀有金或银的针尖尖头2,选择合适的激发波长,在针尖十几纳米附近产生局域等离子体共振效应3,拉曼信号强度和局域电场成正比,增强的热点和样品接近就会大地增强样品的拉曼信号,达到 105 或者 106 4。

 

3、什么是同区域成像

拉曼和扫描探针显微镜可以偶联成为一套系统,同区域成像测试是在同一个区域内同时或者连续获得 AFM 图和拉曼成像图。

AFM 和其他的 SPM 技术如 STM, 音叉模式(正交力和剪切力)可以提供表面形貌,力学性能,热学性能,电学和磁学性能以及分子分辨率测试,另一方面共焦拉曼光谱和成像提供材料的化学信息,受到空间分辨率的限制。

 

4、可验证的 TERS 样品

HORIBA 提供一系列的测试样品包括单壁碳纳米管和氧化石墨烯,适当的分散可以做 TERS 成像。样品用来展示 AFM 的分子分辨率,通过 TERS成像展示 20 nm 的空间分辨率。

 

 

四、集成化软件——一个软件控制 HORIBA NANO Raman的数据采集

 

· 集成化软件:一个软件即可控制 HORIBA NANO Raman 整个平台(包括单独AFM、拉曼、光致发光、同区域成像测试和 TERS)

· 强大的 Labspec6 软件:集成多变量分析模块,一键完成PCA,MCR,HCA,DCA 分析

·  Spec-top 成像模式:Spec-top为*的轻敲模式,根据设置的步进轻敲样品,这样既保留了针尖的尖锐度,也提高了 TERS 信号的放大倍数。

· Dual-spec 模式:Dual-spec 可以同时获得近场增强信号和远场拉曼信号,基于差谱的方法扣除远场拉曼信号,获得高空间分辨率的 TERS 成像图

多变量分析:全矩形扫描区域会消耗大量时间,可以在 AFM 图上选择不规则区域来做成像

· 曲线图:力曲线测试反映材料的硬度或者吸附力分布,力学常数

 

 

关键词:显微镜
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