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CRD高反射率测量仪

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具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称北京昊然伟业光电科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地北京市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2022/10/26 14:44:07
  • 访问次数468
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  北京吴然伟业光电科技有限公司成立于2010年,专业代理欧美(德国、瑞士、美国、波兰等)高精度的光学检测设备,致力于为科研和工业客户提供光学检测解决方案及包括售前、售中及售后在内的全服务。主要包括:光学检测产品:应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射仪、非接触式测厚仪、测角仪、激光损伤阈值测试系统、光学表面质量检测系统、可调相位延迟波片等;激光检测产品:激光功率计、能量计、光束质量分析仪、M2测试仪等;集成系统所需的激光器、步进位移平台、偏振光转换器等显微系统所需的XYZ电动载物台、波片进片机、高速相机ICCD、像增强器300ps门控时间、FLIM、 高精度脉冲延时器等。值得一提的是,近年来公司科研团队自主研发PCI弱吸收测量仪,CRD光腔衰荡法高反测量仪,偏心曲率测量仪等产品,为今后的发展壮大奠定了坚实的基础。OPCROWN PHOTONICS Company Limited (OPCROWN) was founded in 2010, which markets and distributes globally sourcedproducts and services into the Photonics markets of China, committed to providing scientific research and industrial clientswith optical detection solutions and services including pre -sales, in-sales and after-sales. Main products include :Optical detection Instruments:Goniometer, Thickness, Birefringence, Refractive index , Absorption Reflectivity, Scattering, Retardation,GDD etc.Laser detection Instruments:Power/Energy Meter, Beam Profile, M2, etc;Laser, microbench, positioning systems, mirror mounts, Polarized Converter,etc;XYZ electric stage, ICCD, Image Intensifier, FLIM,etc.It is worth mentioning that the company's scientific research team independently developed the PCI absorption measuringinstrument, CRD high reflectivity measuring instrument, eccentric curvature instrument etc. The relevant indicators havereached the international advanced level, laying a solid foundation for the future development and expansion.
应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射仪、非接触式测厚仪、测角仪、激光损伤阈值测试系统、光学表面质量检测系统
CRD高反射率测量仪
CRD高反射率测量仪 产品信息
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  • 上传成功 Spectrally resolved measurement of small optical losses by cavity enhanced spetroscopy techniques
  • Spectrally resolved cavity ring down measurement of high refelctivity mirrors using a supercontinuum laser source

 

针对高反射率(R>99.7%)的光学样品,德国 IPHT Jena研发了光腔衰荡光谱法(Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS)反射率测量测量系统, 它通过对指数型腔内衰荡信号的检测, 消除了传统检测方法中激光能量起伏所引起的误差, 大大提高了测量精度。

测量原理

当一束脉冲激光沿着光轴入射到光腔内,忽略衍射及散射损耗,单色脉冲光在两个腔镜之间往返振荡,每经过一次循环透射出部分光,探测器通过接收光脉冲信号得到其以单指数形式衰减。
 

 

τ为衰荡时间,指光子出射脉冲光强衰减为初始光强的1/e时经历的时间。C代表光速,L是代表腔长,RM是两个腔镜的几何平均反射率,散射V和吸收系数α忽略不计。则,衰荡时间τ表示为:

从公式上可知:


1)腔内损耗越小,反射率越高,衰荡时间越长。
2)在已知参考片的反射率Rref 前提下,可求得要待测样品的反射率R。
 

一、 德国IPHT CRD高反射率测量系统

1. CRD系统介绍

 

系统包含

1. 激光光源
2. 光学零部件
3. A/D转换器
4. 探测系统

系统要求

详细说明

激光器波长范围

400nm-1064nm内常见激光波长

激光器工作模式

脉冲

测量角度范围

标准0°;45°选配

反射率测量范围

99.9%-99.995%

测量精度

反射率精度取决于待测样品反射率,精度为(1-R)*10%

样品类型

平平/平凹镜(凹面的曲率半径≥500mm),平面抛光,凹面镀高反,反射率R在99.9%...99.995%范围内

样品尺寸要求

标准即1英寸;半英寸/50mm可选(直径要求可根据客户需求定制)

标准厚度:1/4英寸(5-7mm可选)

 

应用:

精确检测高反射率激光腔镜的反射率,尤其对于反射率大于99.9%的腔镜测量具有更好的效果。

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