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Optotherm EL 电路板红外热成像系统

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称深圳市立特为智能有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地深圳市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2022/10/27 10:01:27
  • 访问次数216
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Who we areLEADERWE (‘Leaderwe Instrument limited ‘and ‘Shenzhen Leaderwe Intelligent Co.,Ltd‘) is a professional supplier of analysis and inspection systems in the field of electronic、semiconductors, batteries, material, etc. established in HongKong 2011, and have branches in Shenzhen and Hefei.With the development of many years, LEADERWE has a number of experienced sales staff as well as professional service staff, not only to provide you with high-end practical equipment but also complete technical proposals and support, we have continuously invested in demo units, staff training, and participated in industry conferences/ exhibitions, Our customers include many major Electronic/Semiconductors/Batteries Manufacturers /Universities/Research Institutes in the whole China market. we have won Apple, Foxconn, Huawei, BYD, BBK, Meadville, TI, CATL, Peking University, and more than 200 customers who trust and cooperate.LEADERWE is efforts to become the most reliable analysis and inspection equipment supplier, We would like to meet the opportunities 、 challenges and have long-term development with our vendors and customers. LEADERWE立为包括立为设备有限公司和深圳市立特为智能有限公司,是一家专业提供电子、材料等领域分析及检测设备的综合服务供应商!LEADERWE 立为拥有一批有着丰富经验的销售人员以及专业的服务人员,不仅为您提供实用的设备,更能为您完整的方案及相应的应用技术支持。历经多年耕耘,已获苹果、富士康、华为、步步高、美维集团、新能源集团等等超过两百多家客户的信赖与认可。适用的设备,前沿的技术,高效热情的服务,LEADERWE 立为努力成为广大客户的科学设备供应商,愿与我们的供应商及客户共谋发展、共同迎接机遇与挑战。中国主要办事处:深圳、香港、合肥。
显微镜
EL电路板故障红外热分析系统介绍许多电路板的缺陷,不能使用诸如电路测试、功能测试、光学检测,以及X射线检测等这些常规的故障分析的方法来检测和识别缺陷
Optotherm EL 电路板红外热成像系统 产品信息

EL

  • 电路板故障红外热分析系统

介绍

许多电路板的缺陷,不能使用诸如电路测试、功能测试、光学检测,以及X射线检测等这些常规的故障分析的方法来检测和识别缺陷。例如以下的这些缺陷:

  • 电源对地短路和低电阻短路
  • 过压和边缘组件
  • 有缺陷的BGA,VOC(压控振荡器)和去耦电容等
  • 散热器失效

技术人员和工程师可能需要花很多时间去调试检测和测试电路板,而大多因为无法找出缺陷而只能选择报废。EL电路板故障诊断系统提供了一个可以定位这些缺陷的检测方法,使其成为常规分析检测方法之外的另一种选择。常规检测和诊断技术之间的空白。

关于Optotherm相关产品在/optotherm/有详细的描述,另建有应用实验室,欢迎大家送样测试。

EL是一种有效的和经济的工具,它可以降低检测成本和减少废料。对有故障的缺陷板进行初次筛查时,EL可以快速提供有用的故障排除信息,大大减少了维修时间。

OPTOTHERM PCBA FA DETECT

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待测电路板 分析结果

故障诊断软件工具

  • 热点探测定位短路位置
  • 与正常电路板比较,来解决更复杂的缺陷问题
  • 红外-可见光点对点融合叠加准确定位电路板上的缺陷

应用

产线返工

大量时间都花在测试从产线上退回来的板。技术人员使用从ICT,FCT等其他设备来识别缺陷,但往往很少能找出缺陷。缺陷的构成在制造中过程与在生产线的末端有太大的不同。在此阶段,大多数缺陷通常由电源对地短路和缺陷器件造成的。EL检测这些测缺陷板时,已经证明通常超过75%的检出率。当用EL作为有缺陷的电路板初次筛查,EL可以快速提供有用的故障排除信息,大大减少了维修时间。

返厂维修

当电路板有具体不良现象从使用端退回来。很多时候,技术人员很少或不知道从哪里开始进行失效分析。 EL可以提供非常有用的信息,让技术人员来缩小他们的搜索范围,锁定在只有几个可疑组件的小区域内。

废品回收

EL常用于PCBA回收。报废的PCBA价值可以达到数百万美元,他们的恢复可以带来直接和可观的经济利益。 EL通常使OEM和供应商得以挽救他们的50%以上的报废品。在这样的情况下,投资回收期可缩短至2至3个月。

功能验证

EL可以用做电路板的基本功能测试。虽然EL不能提供电路板功能测试仪那样的详细的功能测试,但它可以提供基本的功能验证。与传统的功能测试仪相比,EL具有成本低和快速配置等优点。没有定制的硬件要求,可以在1小时内配置完成。当一台专业的功能测试仪的成本太高而难以承受时,EL是理想的选择。

优化设计

因为增加的布局和功率密度,热成像已成为在设计过程中的重要工具。 EL辅助电路板布局设计,帮助他们获取和分析原型电路板和元件的温度分布是否合理。热管理问题可以在生产开始之前在设计阶段就解决,限度地减少故障排查和维修带来的高成本。此外,通过形成一个开发板和元器件的热分布历史数据,设计人员在设计阶段就可以合理布局以实现热合理分布。

在线筛选

EL可以在生产线上的产品进行筛选,以找出常规测试方法无法检测的缺陷。过压器件可以通过ICT和FCT检测,却在该产品使用的早期就失效,因而存在可靠性隐患。许多时候,这些组件的升温速度比正常的要快,通过EL检测在它们出厂之前就能被发现。通过在生产线的末端使用EL,许多这些缺陷可以在它们到达废料堆之前就确定。

故障检测模式
  • 夹层、隐藏的电阻短路
  • 器件故障
  • 过压器件
  • 潜在缺陷
  • 散热片和芯片连接问题
特点
  • 很短的配置时间
  • 无需编程或定制工具
优点
  • 更完整的故障覆盖率
  • 通过筛选潜在缺陷提高产品可靠性
  • 较高的投资回报率
  • 大大降低废板
  • 缩短返修周期
  • 提高生产线的良率和产品
  • 提高工艺质量

Thermalyze故障诊断软件工具

Optotherm的Thermalyze软件提供了一个稳定的平台,可以进行复杂的电路板故障诊断测试。工具如热点探测和MBC比较测试,帮助您准确分辨许多不同类型的印刷电路板组件故障。现代和直观的用户操作界面限度地提高使用效率,并帮助您快速定位缺陷。

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关键词:振荡器
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