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HAST高压加速老化试验箱

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称广东科明环境仪器工业有限公司
  • 品       牌
  • 型       号KM-HAST-55
  • 所  在  地广州市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2023/11/25 11:42:45
  • 访问次数102
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广东科明环境仪器工业有限公司(KOMEG Technology Ind Co.,Ltd)·简称【科明(KOMEG)】成立于1990年,地处国家产业开发区-松山湖产业园,并拥有一期、二期共18000+m2生产基地,是国内模拟环境可靠性检测设备企业、国际企业。历经30年的发展,科明已发展为集研发、生产、销售、服务于一体的模拟环境可靠性试验设备企业。KOMEG不仅研发、设计、制造全系列的气候环境试验设备,并为各类气候环境模拟试验工程提供解决方案,产品有:温湿度(湿热)交变试验箱、高低温循环试验箱、冷热冲击循环箱、快速温变试验箱、老化试验箱、高低温低气压试验箱、温度·湿度·振动三综合环境试验箱等各类大型步入式恒温室、淋雨、砂尘、光照、盐雾环境模拟系统、整车气候环境模拟及检测系统、多因素环境模拟系统以及各种非标试验系统等。市场覆盖70多个国家和地区,为超过2600+企业提供可靠性检测服务及技术支持。产品广泛应用汽车电子、轨道交通、通信化工、科研、新能源、精密仪器制造等多个领域。持续为国民经济快速发展、国内环试行业的成长推波助澜。历经30年的发展与沉淀,科明始终秉承:“以客户为中心,创造高品质产品企业的经营理念;以成为受人尊敬具有创新能力的行业企业的发展愿景;坚持为客户创造价值为员工创造机会,为社会承担责任的企业使命;客户满意,员工幸福。精细致远,服务社会的价值观。”的企业文化。始终遵循“产品质量精益求精,客户需求不断满足”质量方针,专心维护、用心服务是我们对每一位客户交代,用心做好每一台设备,是我们对客户尊重。科明30年不忘初心,始终坚持“以奋斗者为本,做一家有温度的企业。”科明始终坚持技术创新,人才创新,通过产研融合,校企合作持续推动国内环试行业蓬勃发展,并创办了环试行所专业院校“科明学院”。借鉴、吸收并培养行业内专业人才。30年来,科明先后荣获“国家企业”、“广东优质制造商”、“华为优质服务商”、“守合同重信用企业等荣誉”、荣选“《全国实验室仪器仪表及设备标准化技术委员会委员单位》SAC/TC526委员会单位企业”、“东莞市锂电行业协会副会长”、“中国仪器仪表行业协会理事单位”等……产品通过CE、SGS、TUV等认证,满足GB、GJB、IEC、DIN、 MIL等各类试验标准要求。科明研发核心团队均为本科或硕士以上学历、理工科背景,从业超过十年以上,为行业人士。其中多人具备高级工程师(副高)或研究员级高级工程师(正高)\教授级高级工程师(正高)级别水平资历,研发、技术实力雄厚。拥有十二项技术、多项软件著作权,让世界爱上中国造、让知识产权保护中国造。其中节能技术及制造工艺行业,广受合作客户。
高压加速老化试验箱
产品介绍英文名称:HighlyAcceleratedTemperatureandHumidityStressTest产品别名:HAST寿命试验箱
HAST高压加速老化试验箱 产品信息
  • 产品介绍

    英文名称:Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test

    产品别名:HAST寿命试验箱,高压蒸煮试验箱、HALT、 HAST 试验箱,高加速温度和湿度压力测试箱,HAST CHAMBER,加速老化试验机,高温高湿高压老化箱,加速寿命试验机,高压加速老化箱,寿命高加速试验箱,饱和稳态湿热试验箱,HAST测试箱等可靠性试验设备。

    产品用途

    HAST试验箱适用于IC封装,半导体,微电子芯片,磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。

    应用领域

    广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。

    产品特点

    ◆内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。

    ◆采用7寸真彩式触摸屏,拥有250组12500段程序,具有USB曲线数据下载功能,RS-485通讯接口。

    ◆采用干湿球传感器直接测量(控制模式分为:干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式)。

    产品参数

    更多型号支持非标定制

    恒温恒湿试验箱

    适用标准:GB/T2423.40,IEC60068-2-66,JESD22-A102-D,JESD22-A110-D,JESD22-A118-A

    恒温恒湿试验箱

    恒温恒湿试验箱

    恒温恒湿试验箱

    恒温恒湿试验箱

    当今的技术正在朝着具有较高漏芯电流的器件的薄型/低几何尺寸封装发展,这会产生内部功耗,进而将水分从芯片/器件中带走,

    并阻止了与水分相关的失效机理的分析。

    HAST(高度加速的温度和湿度应力测试)已成为设备封装可靠性和鉴定过程的关键部分,它主要用于评估潮湿环境下非密封包装设备的可靠性。这是通过在高度受控的压力容器内设置和创建温度-湿度-压力的各种条件来完成的,这些条件加速了水分通过外部保护性塑料封装的渗透,

    并将这些应力条件施加到芯片/器件上。

    根据JEDEC JESD22-A110常见测试条件有:130°C / 85%RH / 33.3 psia和 110°C / 85%RH.17.7磅/平方英寸,持续时间:96或264小时。


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