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热阻测试仪_陕西天士立科技生产研发

参考价 ¥ 985000
订货量 ≥1
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称陕西天士立科技有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       号ST-HeatX
  • 所  在  地西安市
  • 厂商性质生产厂家
  • 更新时间2024/11/13 10:15:44
  • 访问次数734
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  陕西天士立科技有限公司,专业从事半导体检测之“半导体电学测试系统”“半导体可靠性试验台”“半导体老化试验台”以及气候环境试验设备、力学环境试验设备、参数化脉冲电源、半导体EDA仿真软件、智慧工厂、碳化硅陶瓷材料、第三方检测实验室为一体的科研、制造、开发、服务性品牌。核心团队汇集了来自院所高校和知企业的从事电力电子、芯片开发、电源、软件等领域人士。。产品成熟可靠,久经市场考验,在替代同类进口产品方面有着突出的优势。
 
  “半导体检测”系列产品覆盖半导体功率器件的初始研发到规模量产再到应用端的全产业链。服务领域包括半导体器件及IC上游产业(设计、制造、封装、IDM厂商、晶圆、DBC衬板)和应用端产业(院所高校、电子厂、轨道机车、新能源汽车、白色家电等......)应用场景主要有器件及IC研发期预演测试、晶圆厂自动化芯片测试、器件及IC后道封装测试。应用端的来料检验、失效分析、器件选型、参数配对、寿命预估等。
 
  “环境试验设备”包括力学振动台、冲击试验台、振动温度湿度三综合、高低温环境试验箱、各类气候环境试验箱、热流仪、精密实时在线高低温箱。
 
  “电气工程”产品系列及服务包括电力半导体器件、模块、组件的研制及综合检测设备;电气自动化设备,电冶、电化学整流装置;电力半导体变流装置及各种高、中、低频感应加热电源,感应加热炉,变压器、整流器、电感器、电容器、互感器、传感器及其配套设备;晶闸管光控高压阀组、GTO、IGBT、IGCT、MOSFET驱动器;远距离光电传感转换软件控制系统;光电脉冲触发板、IGBT智能高压驱动机车调速汇报板;SVC无功静补装置等。
 
半导体分立器件静态动态参数测试系统,IGBT静态动态参数特性测试设备,MOS-FET管场效应管测试仪,可控硅参数测试设备,光耦参数测试仪,二三极管参数测试仪,碳化硅SiC氮化镓GaN器件静态动态参数测试仪设备,半导体器件特性分析仪,IGBT模块功率循环试验,实时在线高低温箱,热流仪,气流仪
产地 国产 产品新旧 全新
自动化程度 全自动
热阻测试仪_陕西天士立ST-HeatX_平替进口。产品符合JESD 51-1、JESD 51-14标准,可输出结构函数,用于DIODE、IGBT、MOSFET、HEMT、GTO、功率IC等多种类型功率器件及其模组的_热阻抗_热特性_瞬态热阻_稳态热阻_Kcurve_Rth_Zth_热结构分析
热阻测试仪_陕西天士立科技生产研发 产品信息

热阻测试仪_陕西天士立ST-HeatX_平替进口。产品符合JESD 51-1、JESD 51-14标准,可输出结构函数,用于DIODE、IGBT、MOSFET、HEMT、GTO、功率IC等多种类型功率器件及其模组的_热阻抗_热特性_瞬态热阻_稳态热阻_Kcurve_Rth_Zth_热结构分析


热阻测试仪_陕西天士立科技生产研发


ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统


热阻测试仪_陕西天士立科技生产研发


ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的产品特点

超高精度:温度(T;)分辨率0.01℃℃,1MHz变频采样:

技术领:第三代瞬态热测试技术,可输出结构函数进行热结构分析

行业:具备4路高速高精度采集模块,采样速度,精度均达到行业D尖水平

架构:采用B/S架构控制系统、可远程对设备进行状态监控和控制,实现智能化;

瞬态监测:连续采集加热和冷却区的结温变化,同步采集温度监控点数据;

NPS技术:同步采集温度监控点(NTC/PTC)和结温数据,形成数据关系矩阵。

ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的应用场景

器件结壳热阻测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统  

散热结构分析ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统  

Die-Attach热阻测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统  

DBC/AMB基本热特性测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统  

界面热阻测量与分析ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统  

PCB板级散热结构分析ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统  

散热器性能测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统  

TIM材料热导率测试ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统  

热缺陷检测ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统  


ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的“功能指标”


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ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的“温度系数标定”

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ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的“瞬态热测试”

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四、数据处理与输出

4.1“数据处理与输出”ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统

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4.2“热模型抽取”ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统

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4.3“脉冲热阻”ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统

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4.4“安全工作区”ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统


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ST-HeatX迷你版10A5V1C1P版本


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