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高速相位差测量装置 RE-200

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称大塚电子(苏州)有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地苏州市
  • 厂商性质生产厂家
  • 更新时间2024/10/15 7:53:05
  • 访问次数123
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  大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价・检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源・照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价・检查。


  以高速・高精度・高可靠性且有市场实际应用的分光器MCPD系列为基础, 在中国的显示器 市场上有着20年以上销售实例, 为许多厂家在研究开发、生产部门所使用。并且在光源・照明 相关方面,对研究机构、各个厂家的销售量在逐步扩大。


  在中国的苏州有设立售后服务点,为了能迅速且周到的为顾客服务而努力。


  我公司的母公司日本大塚电子集团,隶属于大冢集团, 一直以来都谨守大冢集团 的企业理念「Otsuka-people creating new products for better health world wide」(大冢 为人类的健康创造革新的产品), 不断的推出创新产品,为社会作出贡献。

纳米粒度仪,Zeta电位仪,膜厚仪
产品信息 特 点 可测从0nm开始的低(残留)相位差 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.) (相当于快速的0.1秒以下来处理) 无驱动部,重复再现性高 设置的测量项目少,测量简单...
高速相位差测量装置 RE-200 产品信息

    产品信息

    特 点

可测从0nm开始的低(残留)相位差
光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)
(相当于快速的0.1秒以下来处理)
无驱动部,重复再现性高
设置的测量项目少,测量简单
测量波长除了550nm以外,还有各种波长
Rth测量、角测量
(需要option的自动旋转倾斜治具
通过与拉伸试验机组合,可同时评价膜的偏光特性和光弾性
 (本系统属特注。)

    测量项目

相位差(ρ[deg.], Re[nm])
主轴方位角(θ[deg.])
椭圆率(ε)?方位角(γ)
三次元折射率(NxNyNz)

    用 途

位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜
树脂、玻璃等透明、非均质材料(玻璃有变形,歪曲等)

    原 理

什么是RE-200
RE-200是光子结晶素子(偏光素子)、CCD相机构成的偏光计测模块和透过的偏光光学系相组合,可高速且高精度的测量位相差(相位差)、及主轴方位角。CCD相机1次快门获取偏光强度模式,没有偏光子旋转的机构,系统整体上是属于小型构造,长时间使用也能维持稳定的性能。


执行拟合/傅立叶变换以计算椭圆度 ε 和方位角 γ。

     

    规 格

                    型号

                    RE series

                    样品尺寸

                    最小10×10mm ~100×100mm

                    测量波长

                    550nm (标准仕样)※1

                    相位差测量范围

                    约0nm ~约1μm

                    轴检出重复精度

                    0.05°(at 3σ) ※2

                    检出器

                    偏光计测模块

                    测量光斑直径

                    2.2mm×2.2mm

                    光源

                    100W 卤素灯或 LED光源

                    本体?重量

                    300(W) × 560(H) ×430(D) mm 、约20kg

 Option
Rth测量、角测量※治具本体(旋转:180°, 倾斜:±50°)
动旋转倾斜治具

测量示例

视角改善膜A

视角改善膜B

关键词:CCD相机
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