Microtech太赫兹时域光谱仪-太赫兹光谱仪

一、Microtech成像系统

1、光栅扫描成像系统

Microtech太赫兹时域光谱仪-太赫兹光谱仪 使用与透射光谱仪相似的光学配置，但利用线性平台来支撑和移动太赫兹光束焦点中的物体。中心焦点确保成像仪具有良好的分辨率，并通过将整个信号聚焦在一个小点上，从而实现高动态范围。

关键特征包括：

• 可与BWO和TPO源一起使用
• 配有易于使用的软件
• 无损评估的理想工具

2、T-Vision：视频流成像系统

T-Vision成像系统为高帧率成像应用提供了的解决方案。T-Vision成像系统是一套完整的集成系统，集成了我们的TPO发生器和成像元件。成像是基于无线性进程，进程中hte太赫兹图像是混合了近红外脉冲，产生一个向上转换的近红外图像用于和CMOS相机探测使用。该系统可根据客户具体需求客制化。用户可根据具体的应用需求自行搭建不同的基于BWO返波管的THz光谱系统。

T-Vision系统是一个一体化系统，将我们的TPO发生器与成像光学系统集成在一起。成像是基于一个非线性过程，其中THz图像与近红外脉冲混合，产生一个上转换的近红外图像，该图像可通过CMOS相机检测。此外，该系统还可根据用户的需求进行定制。

二、Microtech太赫兹时域光谱仪-太赫兹光谱仪

Microtech Instruments公司可提供整套的太赫兹光谱系统，以满足用户各种不同的需求：

-紧凑型THz光谱系统

-THz透射光谱系统

-THz反射光谱系统

-THz马赫—曾德干涉光谱系统

1、紧凑型 Microtech太赫兹时域光谱仪-太赫兹光谱仪

美国Microtech公司提供的紧凑型太赫兹光谱仪能够在100GHz到1.5THz光谱范围内进行透射测量。该系统是基于毫米波返波振荡器(BWO)与倍频器和宽频热释电探测器的相结合。太赫兹光谱仪能够在180GHz到1.42THz的光谱范围内进行高分辨率的光谱测量。这些系统运用了频率可调谐的返波振荡器(BWOs)作为太赫兹辐射源，Golay Cells（高莱探测器）作为探测器。

2、太赫兹透射光谱系统

使用透射光谱系统进行透射测量是表征高透明材料的方法。特别是，平面平行板的透射光谱由于干涉(Fabry-Perot etalon fringes)的原因呈现出周期性透射图样。可通过这些测量决定介电常数实部和虚部，因为标准具条纹的周期和振幅分别取决于材料折射指数和吸收率。

对半透明材料进行特征分析则需要使用THz Mach-Zehnder干涉光谱系统，具体请看以下Mach-Zehnder干涉光谱系统的介绍。因为在此类材料的透射光谱中无法观察到标准具条纹。Mach-Zehnder装置可以测量由样品作为频率函数所引起的相移。结合这些数据和透射光谱，可以计算出介电常数的实部和虚部。

3、Mach-Zehnder（马赫—曾德）干涉光谱系统

半透明材料的表征需要使用THz Mach-Zehnder干涉光谱系统，因为在此类材料的透射光谱中无法观察到标准具条纹。Mach-Zehnder装置可以测量由样品作为频率函数所引起的相移。结合这些数据和透射光谱，可以计算出介电常数的实部和虚部。

高吸收材料只能用反射几何体来表征。

4、太赫兹反射光谱系统

不透明材料的表征需要反射光谱系统。这是由于发射信号太弱，无法表征，因此采用六轴控制系统测量反射信号。与透射光谱仪和相位分光计一样，通过软件的理论拟合能力，可以快速计算出折射率、消光系数和双折射函数的实部和虚部。

太赫兹透射、Mach-Zehnder和反射光谱系统由TScan软件支持，可实现自动数据采集和分析。对于系统中使用的每个BWO，一次光谱扫描需要1-5分钟。