功能：平行平晶用于干涉法测量千分尺、卡规和千分表等测量面平面度、平面平行度。
产品规格：
每组平行平晶共四块，分四个尺寸系列组
测量面上平面度偏差： <0.1μm
平面度局部偏差： >0.03μm
测量面平行度误差： 组Ⅰ系列允差值：0.06μm 组Ⅱ、Ⅲ系列允差值：0.08μm 组Ⅳ系列允差值：0.1μm
| 组Ⅰ | 0－25mm | 4块/组 | |
| 组Ⅱ | 25－50mm | 4块/组 | |
| 组Ⅲ | 50－75mm | 4块/组 | |
| 组Ⅳ | 75－100mm | 4块/组 |
尺寸系列表
| 组号 | 0－25 | 25－50 | 50－75 | 75－100 |
| 1 | 15.00，15.12 | 40.00，40.12 | 65.00，65.12 | 90.00，90.12 |
| 2 | 15.12，15.25 | 40.12，40.25 | 65.12，65.25 | 90.12，90.25 |
| 3 | 15.25，15.37 | 40.25，40.37 | 65.25，65.37 | 90.25，90.37 |
| 4 | 15.37，15.50 | 40.37，40.50 | 65.37，65.50 | 90.37，90.50 |
| 5 | 15.50，15.62 | 40.50，40.62 | 65.50，65.62 | 90.50，90.62 |
| 6 | 15.62，15.75 | 40.62，40.75 | 65.62，65.75 | 90.62，90.75 |
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