2018-11-14 11:12:25811
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M1MISTRAL镀层测厚仪是采用X射线荧光技术的光谱仪，可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围：原子序数22号（钛）-92号（铀）中的所有元素。分析的样品类型：各种不同材料，如金属、合金、块体、溶液
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