M1 MISTRAL镀层测厚仪

M1 MISTRAL镀层测厚仪

用于大件样品和多层膜样品的非破坏分析

       M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪，可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围：原子序数22号（钛）-92号（铀）中的所有元素。分析的样品类型：各种不同材料，如金属、合金、块体、溶液等。

       480×490×200mm³的大腔体支持更大样品的测量。自动X-Y-Z轴程控样品台，zui大移动范围200×175×80mm，支持自动多点测量。

       M1 MISTRAL 是一款紧凑型的台式 μ-XRF 光谱仪，用于分析块状材料和涂层。它的操作速度快、成本效益， 可以提供与材料元素成分有关的准确信息。测定镀层样品厚度及成分例如
Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pb-Ni-Cu

珠宝及合金分析：
       M1 MISTRAL是珠宝、硬币及贵金属的理想分析工具。所有珠宝合金、铂族金属及银制品、不到1分钟就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分含量或K（开）表示
       M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪，可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围：原子序数22号（钛）以上的所有元素。分析的样品类型：各类不同的材料，如金属、合金、金属镀层包括多层镀层样品
       样品尺寸zui大可达100×100×100mm，无需任何处理，直接放在样品台上检测。
光管位于样品上方，测量过程中部接触样品，因此可以很容易地分析复杂式样的样品，如精工细作的珠宝和不容厚度的样品。

M1 MISTRAL镀层测厚仪各种应用介绍：

·  通用金属分析

M1 MISTRAL是通用金属镀层分析的理想工具，对紧固件、五金材料、汽车零部件镀层、高精度的机械部件都能进行准确、便捷的分析。
·  电子/PCB
采用X-Ray荧光技术的M1 MISTRAL也可分析薄镀层样品，如印刷电路板、引线框架、圆晶、连接器等，M2 BLIZZARD采用开放腔体，可对大型电路板进行测量。

·  珠宝及合金分析

M1 MISTRAL是珠宝。硬币及贵金属的理想分析工具。所有珠宝合金，30S就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分含量或K（开）表示。