MProbe MSP显微反射膜厚仪 测厚仪

MProbe MSP显微反射膜厚仪

大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金刚石炭)，聚合物涂层(聚对二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)。

测量范围: 1 nm -800um

波长范围: 200 nm -1700 nm

光斑直径：200um-4um

MProbe MSP显微反射膜厚仪适用于实时在线测量，多层测量，非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等。

测量指标：薄膜厚度，光学常数

界面友好强大: 一键式测量和分析。

实用的工具：曲线拟合和灵敏度分析，背景和变形校正，连接层和材料，多样品测量，动态测量和产线批量处理。

测量100nm二氧化硅薄膜，40um光斑直径，波长范围：200-1000nm：

欢迎选购本公司产品，铂悦仪器自 2004年成立以来，凭借与世界各大仪器的战略合作关系，以及不断优化公司自身经营管理，提高服务质量，成为中国国内的仪器供应商。