DEKTAK XT台阶仪
不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT一定能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。
能实现：
· *的性能，台阶高度重现性低于4埃
· Single-arch设计提供具突破性的扫描稳定性
· *的“智能电子器件”设立了新低噪音基准
· 新硬件配置使数据采集时间缩短40%
· 64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了10倍
· 频率*，操作简易
· 直观的Vision64用户界面，操作简易
· 针尖自动校准系统，的价值
· 布鲁克（Bruker）以实惠的配置实现zui高的性能
· 单传感器设计，提供单一平面上低作用和宽扫描范围
DEKTAK XT台阶仪40多年不断创新
建立在40多年的探针轮廓技术创新的知识和经验之上—第yi部薄膜测试仪，在第yi部基于微处理器的轮廓仪，和第yi部300mm自动轮廓仪DektakXT继承了以往的“第yi”。新的DektakXT是首部single-arch设计的探针轮廓仪，首部内置真彩高清光学摄像机，及安装64-bit并行处理架构已获得*测量及操作效率的探针轮廓仪
有超过一万台设备，品牌Dektak以质量、可靠性及高性价比著称。当需要台阶高度、表面粗糙度的精确、可靠测量时，人们就会借助Dektak。引进DektakXT，Bruker能让您进一步获得可靠及高效的表面测量
提高数据采集和分析速度
利用*的直接驱动扫描平台，Dektak XT减少了扫描间的时间，而没有影响分辨率和背景噪声。这一改进大大提高了大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描（就探针轮廓仪而言，通常是耗时的）的扫描速度。在保证行业质量和重现性前提下，DektakXT可以将数据采集处理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker64-bit数据采集分析同步操作软件Vision64，它可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度，并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描是的数据分析。Vision64还具有行业内zui有效的直观用户界面，简化了实验操作设置，自动完成多扫描模式，让重复和常规的实验操作变得更快速简洁。
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