行业产品

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成都中冷低温科技有限公司


  • BiasHAST偏压老化测试系统

    详细摘要: BiasHAST偏压老化测试系统,HAST测试系统采用立式结构,便于操作和观察。它利用高温高湿的环境条件,对半导体芯片施加偏置电压,以模拟芯片在长时间使用过程中...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-04-29 在线留言

  • HAST半导体芯片 立式偏压老化测试系统

    详细摘要: HAST半导体芯片立式偏压老化测试系统,HAST测试系统采用立式结构,便于操作和观察。它利用高温高湿的环境条件,对半导体芯片施加偏置电压,以模拟芯片在长时间使用...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-04-10 在线留言

  • 微波器件高加速寿命 偏压老化测试系统

    详细摘要: 微波器件高加速寿命 偏压老化测试系统。是一种用于评估微波器件在条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压,模拟微波器件在实际使用中可能遇到的高温、...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-04-10 在线留言

  • HAST高加速寿命偏压 老化测试系统

    详细摘要: HAST高加速寿命偏压 老化测试系统,微波器件高加速寿命偏压老化测试系统。是一种用于评估微波器件在条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压,模拟...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-04-10 在线留言

  • HAST半导体芯片立式偏压老化测试系统

    详细摘要: HAST半导体芯片立式偏压老化测试系统,HAST测试系统采用立式结构,便于操作和观察。它利用高温高湿的环境条件,对半导体芯片施加偏置电压,以模拟芯片在长时间使用...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-03-10 在线留言

  • 微波器件高加速寿命偏压老化测试系统

    详细摘要: 微波器件高加速寿命偏压老化测试系统。是一种用于评估微波器件在条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压,模拟微波器件在实际使用中可能遇到的高温、高...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-03-10 在线留言

  • HAST高加速寿命偏压老化测试系统

    详细摘要: HAST高加速寿命偏压老化测试系统,微波器件高加速寿命偏压老化测试系统。是一种用于评估微波器件在条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压,模拟微...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-02-05 在线留言

  • HAST半导体芯片BiasHAST测试系统

    详细摘要: HAST半导体芯片BiasHAST测试系统,微波器件高加速寿命偏压老化测试系统。是一种用于评估微波器件在条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-02-05 在线留言

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