行业产品

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成都中冷低温科技有限公司


  • BiasHAST偏压老化测试系统

    详细摘要: BiasHAST偏压老化测试系统,HAST测试系统采用立式结构,便于操作和观察。它利用高温高湿的环境条件,对半导体芯片施加偏置电压,以模拟芯片在长时间使用过程中...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-04-29 在线留言

  • BiasHAST高加速寿命偏压MOSFET-HAST测试

    详细摘要: BiasHAST高加速寿命偏压MOSFET-HAST测试,HAST测试系统采用立式结构,便于操作和观察。它利用高温高湿的环境条件,对半导体芯片施加偏置电压,以模...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-04-10 在线留言

  • BHAST高加速老化测试箱

    详细摘要: BHAST高加速老化测试箱,微波器件高加速寿命偏压老化测试系统。是一种用于评估微波器件在条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压,模拟微波器件在...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-04-10 在线留言

  • HAST测试的失效机理 模拟老化寿命加速

    详细摘要: HAST测试的失效机理 模拟老化寿命加速,HAST高加速寿命试验箱主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性,是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-04-10 在线留言

  • HAST高加速老化试验箱

    详细摘要: HAST高加速老化试验箱,HAST高压加速老化试验箱主要用于评估在湿度环境下产品或材料的可靠性,这是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的各种条...

    产品型号:HAST-400所在地:成都市更新时间:2025-04-10 在线留言

  • HAST半导体芯片 立式偏压老化测试系统

    详细摘要: HAST半导体芯片立式偏压老化测试系统,HAST测试系统采用立式结构,便于操作和观察。它利用高温高湿的环境条件,对半导体芯片施加偏置电压,以模拟芯片在长时间使用...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-04-10 在线留言

  • 微波器件高加速寿命 偏压老化测试系统

    详细摘要: 微波器件高加速寿命 偏压老化测试系统。是一种用于评估微波器件在条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压,模拟微波器件在实际使用中可能遇到的高温、...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-04-10 在线留言

  • HAST高加速寿命偏压 老化测试系统

    详细摘要: HAST高加速寿命偏压 老化测试系统,微波器件高加速寿命偏压老化测试系统。是一种用于评估微波器件在条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压,模拟...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-04-10 在线留言

  • 接触式芯片高低温冲击测试设备三温测试台

    详细摘要: 接触式芯片高低温冲击测试设备三温测试台,接触式高低温设备是成都中冷研发的针对芯片可靠性测试的专用设备,通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递,与传统气流...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-04-10 在线留言

  • zonglen 桌面型高低温冲击热流仪

    详细摘要: zonglen 桌面型高低温冲击热流仪,zonglen推出紧凑设计, 桌面型高低温冲击热流仪ATC860, 温度范围-70℃ 至 +200℃, 气流量 4-14...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-04-10 在线留言

  • HAST环境模拟老化寿命测试箱

    详细摘要: HAST环境模拟老化寿命测试箱,HAST高压加速老化试验箱主要用于评估在湿度环境下产品或材料的可靠性,这是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-04-10 在线留言

  • 接触式高低温芯片测试机三温测试台

    详细摘要: 接触式高低温芯片测试机三温测试台,接触式高低温设备是成都中冷研发的针对芯片可靠性测试的专用设备,通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递,与传统气流式高低...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-04-10 在线留言

  • HAST工业用高加速寿命老化试验箱

    详细摘要: HAST工业用高加速寿命老化试验箱,HAST高压加速老化试验箱主要用于评估在湿度环境下产品或材料的可靠性,这是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压...

    产品型号:HAST-400所在地:成都市更新时间:2025-04-10 在线留言

  • 接触式三温测试台高低温冷热冲击机

    详细摘要: 接触式三温测试台高低温冷热冲击机,接触式高低温设备是成都中冷研发的针对芯片可靠性测试的专用设备,通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递,与传统气流式高低...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-04-10 在线留言

  • 接触式高低温冲击机冷热台温度系统

    详细摘要: 接触式高低温冲击机冷热台温度系统,ThermoTST ATC840是一台精密的接触式高低温冲击机,温度范围-45℃到+200℃,提供了很强的温度转换测试能力。

    产品型号:ATC840所在地:成都市更新时间:2025-04-10 在线留言

  • HAST半导体芯片立式偏压老化测试系统

    详细摘要: HAST半导体芯片立式偏压老化测试系统,HAST测试系统采用立式结构,便于操作和观察。它利用高温高湿的环境条件,对半导体芯片施加偏置电压,以模拟芯片在长时间使用...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-03-10 在线留言

  • 微波器件高加速寿命偏压老化测试系统

    详细摘要: 微波器件高加速寿命偏压老化测试系统。是一种用于评估微波器件在条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压,模拟微波器件在实际使用中可能遇到的高温、高...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-03-10 在线留言

  • HAST测试机测试箱Burn-in Oven

    详细摘要: HAST测试机测试箱Burn-in Oven,HAST测试机高加速寿命试验箱Burn-in system,HAST高压加速老化试验箱主要用于评估在湿度环境下产品...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-03-10 在线留言

  • zonglen接触式高速低温气流冲击试验机

    详细摘要: zonglen接触式高速低温气流冲击试验机,接触式高低温设备是成都中冷研发的针对芯片可靠性测试的专用设备,通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递,与传统...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-03-10 在线留言

  • 桌面式高低温测试仪ATC840

    详细摘要: 桌面式高低温测试仪ATC840,接触式高低温设备是成都中冷研发的针对芯片可靠性测试的专用设备,通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递,与传统气流式高低温...

    产品型号:所在地:成都市更新时间:2025-03-10 在线留言

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