双折射（应力）测量系统-EXICOR OIA

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                 双折射（应力）测量系统-EXICOR OIA 

的双折射测量系统是透镜、平行面、 曲面光学的倾斜角度评估。

Hinds Instruments 的ExicorOIA是透镜、平行面光学、曲面光学在正常和斜入角度评估的主要双折射测量系统。该系统是建立在Hinds lnsrtuments 获奖光弹调制器（ PEM）基于Exicor®双折射测量技术。新一代的双折射测量系统为该行业提供了分析和开发下一代光刻透镜、透镜毛坯和高价值精密光学的新能力。

该系统利用PEM调制光束的偏振状态、*探测和解调电子来测量光学如何改变偏振状态。这就导致了一个偏振状态相对于另一个偏振状态的光延迟测量结果是90°。利用这些数据可以
对双折射、快速轴向和理论残余应力进行评估。在平板透镜和己完成透镜的研究和生产中， HindsInstruments和Exicor斜入射角技术被用于评估光学双折射。