详细摘要： 弱吸收的意义在高功率激光系统中，光学镜片的膜层及体材料吸收较大的话会引起以下热透镜效应进而产生一系列问题： 1.如下图所示的焦距发生变化 2.波前畸变 3.退偏...

详细摘要： EKKOTM 圆二色性微片测量仪用于光学活性化合物的高通量筛选。EKKOTM 圆二色性微片测量仪使用垂直光路直接从标准孔板测量圆二色性。这样就不需要将溶液转移到...

详细摘要： PCI弱吸收仪特点：精度高: 1 ppm；一次测量可以区分体、面吸收；扫描速度快（几分钟）；对样品规格要求不高；操作方便、简单。

详细摘要： Exicor双折射微型成像仪为学术界和工业界的研究人员提供了评估双折射的能力。无论是生物材料还是工业材料。 微型成像仪具有0.7μm的数字分辨率，0.1nm的检...

详细摘要： 偏振测量长期以来一直是Hinds仪器的专业技术，在新的交钥匙双PEM研究中，STOKES偏振计系统是为测量光的斯托克斯参量提供高灵敏度的下一步，该系统在光学元件...

详细摘要： 使用Hinds仪器公司PEM技术，该系统为一个完整的Mueller偏振计提供了高水平的灵敏度。关键词：150XT,穆勒椭偏仪，Hinds. Hinds Inst...

详细摘要： Exicor测量通过正在研究的光学样品沿着光路积分的延迟。它旨在测量并显示延迟轴的大小和方向。的设计（申请中）消除了光学系统中的移动部件，并避免了在测量角度之间...

详细摘要： Hinds Instruments 公司的2-MGEM椭圆仪是一种用于测量米勒矩阵样本的正常入射偏振反射显微镜。它可以用来评估RTISO 核燃料热解碳层的光学各...

详细摘要： LCD材料的超低阶双折射测量用于LCD的Exicor GEN系列在与光学材料制造商合作多年后，Hinds 仪器公司推出了Exicor 1500AT系统，用于测量...

详细摘要： Hinds仪器的’Exicor® 双折射测量系统PV-Si是工作平台的扩展。本系统采用高质量的对称光弹性调制器、1550 nm激光和Ge雪崩光电二极管探...

详细摘要： Hinds 仪器的Exicor双折射测量系统型号150AT是Exicor®双折射测量系统系列产品的工作平台。 该系统具有多功能性，在生产车间和研发实验室...

详细摘要： Hinds Instruments 的ExicorOIA是透镜、平行面光学、曲面光学在正常和斜入角度评估的主要双折射测量系统。该系统是建立在Hinds lnsr...