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气体分析仪 详细摘要: 强大的气体分析模块,基于我们强大的和已被认可的4波段分辨率的傅里叶变换红外光谱和一个小型的5米光路,小体积(0.2升)多次加热单元。据我们所知GASEX 是超紧...
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光学表面质量检测系统 详细摘要: QptLux SD 是一款革命性的光学表面质量检测系统,具备高重复性和准确性。
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光源辐射度测量仪 详细摘要: 昊然伟业代理的SpectroSolar系列产品是专门用于测量光源,比如太阳光模拟器发光光谱能量分布。应用于测量连续或脉冲光源光谱及太阳光模拟器的校验
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傅里叶红外光谱仪IR spectrometer 详细摘要: 特点:结构紧凑(小的FTIR光谱仪)模块化设计以太网和USB连接高分辨率(4cm-1)宽光谱范围:2μm-12μm(5000-830cm-1)低成本
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高通量傅里叶红外光谱仪VIS spectrorometer 详细摘要: ARCspectro HT 系列产品是基于偏振光学的高通量静态傅里叶变换光谱仪,具有通光量高、无需附加光学设备等特点,在测量弱光、漫反射光、以及在荧光、拉曼光谱...
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CRD高反射率测量仪 详细摘要: CRD高反射率测量仪
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非接触式测厚仪 详细摘要: Lumetrics 品牌OptiGauge系列厚度测量系统采用了短相干光源的迈克尔逊干涉仪原理。特点:1. 非接触式、非破坏性; 2. 实时在线测量或离线测量;...
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夏克哈特曼传感器 详细摘要: Lumetrics收购了WaveFront Sciences公司,生产夏克-哈特曼波前传感器。Lumetrics的CLAS-2D系列夏克-哈特曼波前传感器集合了...
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角分辨散射测量系统 ALBATROSS-TT散射仪 详细摘要: ALBATROSS-TT是由德国Fraunhofer IOF 研发的角分辨式散射测试系统,具有高动态范围、高灵敏度、低噪声等特点
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LID光热偏转技术弱吸收仪 详细摘要: 弱吸收的意义在高功率激光系统中,光学镜片的膜层及体材料吸收较大的话会引起以下热透镜效应进而产生一系列问题: 1.如下图所示的焦距发生变化 2.波前畸变 3.退偏...
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角分辨散射测量系统-Horos简易型散射仪 详细摘要: Horos (hight sensitive optical roughness sensor) 是一种小型的,便于移动的光学传感器。它以散射测量为基础,用于测...
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PCI共光路干涉弱吸收仪 详细摘要: PCI弱吸收仪特点:精度高: 1 ppm;一次测量可以区分体、面吸收;扫描速度快(几分钟);对样品规格要求不高;操作方便、简单。
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弱吸收仪-LID光热偏转技术弱吸收仪 详细摘要: 弱吸收的意义在高功率激光系统中,光学镜片的膜层及体材料吸收较大的话会引起以下热透镜效应进而产生一系列问题: 1.如下图所示的焦距发生变化 2.波前畸变 3.退偏...
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自动测角仪 详细摘要: 自动测角仪G-1DA用于测量光学产品面与面之间的夹角。ZG Optique SA于1999年在瑞士成立,一直致力于开发和生产用于计量,运输,光学行业和研究的高精...
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圆二色性测量系统 详细摘要: EKKOTM 圆二色性微片测量仪用于光学活性化合物的高通量筛选。EKKOTM 圆二色性微片测量仪使用垂直光路直接从标准孔板测量圆二色性。这样就不需要将溶液转移到...
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弱吸收仪-共光路干涉吸收仪 详细摘要: PCI弱吸收仪特点:精度高: 1 ppm;一次测量可以区分体、面吸收;扫描速度快(几分钟);对样品规格要求不高;操作方便、简单。
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双折射显微镜 EXICOR-MICROIMAGER 详细摘要: Exicor双折射微型成像仪为学术界和工业界的研究人员提供了评估双折射的能力。无论是生物材料还是工业材料。 微型成像仪具有0.7μm的数字分辨率,0.1nm的检...
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Strokes 偏振计 详细摘要: 偏振测量长期以来一直是Hinds仪器的专业技术,在新的交钥匙双PEM研究中,STOKES偏振计系统是为测量光的斯托克斯参量提供高灵敏度的下一步,该系统在光学元件...
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穆勒矩阵测量系统 详细摘要: 使用Hinds仪器公司PEM技术,该系统为一个完整的Mueller偏振计提供了高水平的灵敏度。关键词:150XT,穆勒椭偏仪,Hinds. Hinds Inst...
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双折射(应力)测量系统 EXICOR-SYSTERMS 详细摘要: Exicor测量通过正在研究的光学样品沿着光路积分的延迟。它旨在测量并显示延迟轴的大小和方向。的设计(申请中)消除了光学系统中的移动部件,并避免了在测量角度之间...
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