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各向异性测量系统2-MGEM椭圆计 详细摘要： Hinds Instruments 公司的2-MGEM椭圆仪是一种用于测量米勒矩阵样本的正常入射偏振反射显微镜。它可以用来评估RTISO 核燃料热解碳层的光学各...
产品型号： 所在地：北京市 更新时间：2022-10-26 参考价： 面议 在线留言 -
双折射（应力）测量系统 EXICOR-GEN 详细摘要： LCD材料的超低阶双折射测量用于LCD的Exicor GEN系列在与光学材料制造商合作多年后，Hinds 仪器公司推出了Exicor 1500AT系统，用于测量...
产品型号： 所在地：北京市 更新时间：2022-10-26 参考价： 面议 在线留言 -
双折射（应力）测量系统 EXICOR-PV-Si 详细摘要： Hinds仪器的’Exicor® 双折射测量系统PV-Si是工作平台的扩展。本系统采用高质量的对称光弹性调制器、1550 nm激光和Ge雪崩光电二极管探...
产品型号： 所在地：北京市 更新时间：2022-10-26 参考价： 面议 在线留言 -
双折射（应力）测量系统 EXICOR-150AT 详细摘要： Hinds 仪器的Exicor双折射测量系统型号150AT是Exicor®双折射测量系统系列产品的工作平台。 该系统具有多功能性，在生产车间和研发实验室...
产品型号： 所在地：北京市 更新时间：2022-10-26 参考价： 面议 在线留言 -
双折射（应力）测量系统-EXICOR OIA 详细摘要： Hinds Instruments 的ExicorOIA是透镜、平行面光学、曲面光学在正常和斜入角度评估的主要双折射测量系统。该系统是建立在Hinds lnsr...
产品型号： 所在地：北京市 更新时间：2022-10-26 参考价： 面议 在线留言