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小型高温反偏AS-HTRB-C8

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更新时间:2023-10-15 20:06:22浏览次数:113

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产品简介

小型高温反偏AS-HTRB-C8 AS-HTRB-C8小型高温反偏测试系统用于研发部分评估封装工艺的稳定性,加速缺陷失效率,剔除有隐患的器件或剔除有制造缺陷的器件(剔除早期失效的器件)。适用于各种封装形式的二极管、三极管、半桥、场效应管、可控硅、IGBT等系列器件在高温环境下进行反向偏压试验。 ......

详细介绍

一、设备基本技术指标

名称:小型高温反偏试验系统

设备型号:AS-HTRB-C8

内箱尺寸W×H×D mm:450×450×450

外箱尺寸W×H×D mm:720×1620×1320

内箱容积 :91L

温度范围:RT+10~+200℃

温度波动度:±2℃ ≤100℃时;±3℃ ≤150℃时;

短路保护:板上装有速熔陶瓷保险丝,当被试器件短路时,保险丝熔断保护。

使用范围:各种封装的二极管、三极管、SCR、MOSFET、IGBT等高温反偏试验。

试验线路及试验方法满足JESD22-A108、MIL-STD-750 Method 1038及AEC Q101相关标准要求。

制热与温度循环系统:

加热装置:长寿命镍铬合金电热丝式加热器

加热方式:无触点等周期脉冲调宽,平衡式调温 P.I.D + P.W.M + S.S.R

导风板设计:可调式导风板设计,有效提升温、湿度分布均匀性.

循环装置:采用防潮兼散热设计,不锈钢加长轴心回圈马达

循环风轮:耐高低温铝合金多翼式回圈扇轮

出风循环:风循环方向可根据模块的摆放方向设计,以保证试样处于温度均匀区

二、试验能力

试验能力:电压2000V,试验温度175℃。

通道分区:8个老化试验通道,4个独立直流电源。一组电源对应2个试验通道,整机可同时试验4个不同 规格的器件。(电源可选)

满载容量:80颗/每通道×8通道=640颗。(数量,具体放置数量和封装有关)

插板骨架:材料:304不锈钢板材料,高温下长时间工作不生锈;


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