详细摘要： AWL 系列晶圆检查系统兼具稳定性和安全性，能够安全可靠的传送晶圆，适合在前道到后道工程的晶圆检查。

详细摘要： MXFMS小型系统显微镜采用紧凑轻便的B5大平板底座结合粗微调同轴托架可适应各种环境下的显微观察，灵活精巧的设计使其可安装于大型机械设备，是观察大尺寸或较厚样品...

详细摘要： 4寸工作平台半导体检查显微镜采用大行程移动工作平台，长工作距半复消色差物镜，图像锐利清晰，广泛应用于晶圆、FPD等各项工业检测。

详细摘要： MX6R列晶圆半导体检查显微镜各项操作根据人机工程学设计，减轻操作者的使用疲劳。其模块化的部件设计，可对系统功能进行自由组合。涵盖明场、暗场、斜照明、偏光、DI...

详细摘要： MX8R正置式半导体检查显微镜采用研究级显微镜RX系列的新照明系统和光学系统，照明均匀，成像清晰。

详细摘要： 全新的12寸大工作平台半导体/FPD检查显微镜，更大支持300mm 晶圆及17英寸液晶面板的检查，含4、6、8、12英寸多种转盘，可适用不同尺寸的晶圆检查。人机...