详细摘要： HCM系列同轴显微镜是为半导体后端检测晶圆刻字偏移、易拉罐开启口压痕残余厚度、通孔垂直偏差、新能源电池防爆片刻痕、MEMS结构重合偏差检查等专门研发的⼀款⼯具设...