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半导体反射膜厚仪 HSR-Mapping 详细摘要： 本设备利用反射干涉的原理进行无损测量，通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射谱，同时搭配 R-Theta 位移台，兼容 6 到 12 寸样...
产品型号： 所在地： 更新时间：2025-04-30 参考价： 面议 在线留言 -
半导体反射膜厚仪 HSR-C 详细摘要： 本设备利用反射干涉的原理进行无损测量，测量吸收或者透明衬底上薄膜的厚度以及折射率，同时提供样品反射率，测量精度达到埃级的分辨率，测量迅速，操作简单，界面友好，测...
产品型号： 所在地： 更新时间：2025-04-30 参考价： 面议 在线留言 -
半导体显微膜厚仪 HSR-M 详细摘要： 本设备利用反射干涉的原理进行无损测量，测量吸收或者透明衬底上薄膜的厚度以及折射率，同时提供样品反射率，测量精度达到埃级的分辨率，测量迅速，操作简单，界面友好，搭...
产品型号： 所在地： 更新时间：2025-04-30 参考价： 面议 在线留言