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KSI V-Octo 八探头大型超声波扫描显微镜系统 详细摘要： KSI V-Octo 八探头大型超声波扫描显微镜系统，该系统同时使用8只换能器，能限度的确保快速图像采集和高效能。扫描速度：2000 mm/s,扫描范围：100...
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KSI V-quattro四探头超声波扫描显微镜系统 详细摘要： KSI V-quattro四探头超声波扫描显微镜系统，多工系统，四探头系统，同时使用4只换能器,扫描速度：2000 mm/s, 扫描范围：1000mm700mm
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Nano型高分辨率表层缺陷超声波扫描显微镜系统 详细摘要： KSI－Nano型高分辨率表层缺陷超声波扫描显微镜系统，声学显微成像系统和光学显微成像系统的结合.换能器频率范围：100MHz2000MHz频率实现高分辨率,放...
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KSI i-Ingot型全自动晶锭分析检测系统 详细摘要： KSI－ 凯斯安i-Ingot型全自动晶锭分析检测系统，适用于对晶锭的无损检测，有了它，晶锭内部的裂缝或杂质就能得到快速检测，晶锭的尺寸可达450mm，检测时间...
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KSI i-Wafer晶圆缺陷检测系统 详细摘要： KSI i-Wafer晶圆缺陷检测系统，是一款仪器，操作人员可选择接收/拒绝标准，手动或自动检测晶圆。在KSI i-Wafer的探测下，晶圆中的孔隙、分层或者杂...
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AFMinSEM 针尖电子束光刻与扫描电子显微镜组合系统 详细摘要： AFMinSEM 德国 Nano analytik（ParcanNano)针尖电子束光刻与扫描电子显微镜组合系统,既可以在大气环境下实现样品快速表征，也可以集成...
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PlasmaPro 800 RIE反应离子刻蚀机 详细摘要： 英国Oxford 反应离子刻蚀机PlasmaPro 800 RIE，是结构紧凑、且使用方便的直开式系统，该系统为大批量晶圆和300mm晶圆上的反应离子蚀刻（RI...
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SPL针尖电子束光刻机 详细摘要： SPL德国Nano analytik(ParcanNano)针尖电子束光刻机，基于扫描针尖低能电子场发射的原理、采用压阻式微纳米针尖和多维纳米定位与测量技术、在...
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SII 单离子注入机 详细摘要： SII 德国 Nano analytik（ParcanNano ）纳米级精准定位的单离子注入机,基于新型扫描针尖精准定位的离子注入系统，实现有效控制注入半导体器...
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AFM 高速原子力显微镜 详细摘要： AFM 德国 Nano analytik（ParcanNano）高速原子力显微镜，它使用主动式智能针尖，集传感器、驱动器和可功能化的针尖于一身，实现自激发和自传...
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美Sonix晶圆检查机 AutoWafe Pro. 详细摘要： 美国SONIX 晶圆检测设备 AutoWafe Pro.，是专为全自动晶圆检测设计的机型，主要应用在Bond wafer，MEMS 内部空洞、离层检测，TSV量...
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金/碳镀膜机 详细摘要： 美国Denton Vacuum 金/碳镀膜机,内置泵系统,极短的沉积时间,一致的沉积参数,图形界面彩色触摸板.
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荷兰TSST脉冲激光沉积/激光分子束外延系统 详细摘要： 荷兰TSST脉冲激光沉积/激光分子束外延系统，在真空环境下利用脉冲激光对靶材表面进行轰击，利用激光产生的局域热量将靶材物质轰击出来，再沉积在不同的衬底上，从而形...
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集成等离子刻蚀和沉积的多腔系统 详细摘要： Sentech 集成等离子刻蚀和沉积的多腔系统，SENTECH多腔系统包括等离子刻蚀和/或沉积腔体、传送腔室、预真空室或片盒站。传送腔室包括传送机械手臂，可适用...
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ALD实时监测仪 详细摘要： 德国Sentech ALD实时监测仪，SENTECH ALD实时监测仪是一种新型的光学诊断工具，是心灵超高分辨率的单一ALD循环。在不破坏真空的条件下分析薄膜特...
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SE 800 PV 激光椭偏仪 详细摘要： SE 800 PV 激光椭偏仪，SENTECH设计了SE 800 PV，用于表征由SiNx/SiO2、SiNx/SiNy或SiNx/Al2O3组成的多层钝化膜和...
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SE 400adv PV 激光椭偏仪 详细摘要： 激光椭偏仪SE 400adv PV.是化使用的标准仪器，用于测量PV单层防反射涂层的厚度和折射率指数。特别用于表征单晶和多晶硅太阳能电池上的SiNx 防反射单层...
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光伏测量仪器RT Inline 详细摘要： 德国Sentech光伏测量仪器 RT Inline， RT Inline薄膜反射和透射的在线监测系统，反射率、透射率和膜厚的高速在线测量是RT Inline的设...
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光伏测量仪MDPspot 详细摘要： 德国Sentech光伏测量仪MDPspot，灵活的自动扫描系统，具有成本效益的台式少子寿命测试仪MDPspot可用于表征晶片或面。它为少子寿命测量提供了一个测量...
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MDPmap光伏测量仪 详细摘要： 离线工具MDPmap是专为半导体晶片或部分工艺过的晶片的多功能、非接触和少子寿命测量而设计的。MDPmap能够连续地改变激发脉冲宽度，从非常短的脉冲(100ns...
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