官方微信|手机版|本站服务|买家中心|行业动态|帮助

产品|公司|采购|招标

椭偏仪

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称北京飞凯曼科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       号SE-102
  • 所  在  地北京市
  • 厂商性质代理商
  • 更新时间2017/8/11 10:12:32
  • 访问次数8667
产品标签:

椭偏仪

在线询价 收藏产品 查看电话 同类产品

联系我们时请说明是 制药网 上看到的信息,谢谢!

北京飞凯曼科技有限公司为多家国内外高科技仪器厂家在中国地区代理商。飞凯曼科技公司一贯秉承『诚信』、『品质』、『服务』、『创新』的企业文化,为广大中国用户提供*的仪器、设备,周到的技术、服务和*的整体解决方案。在科技日新月异、国力飞速发展的中国,光电技术、材料科学、光电子科学与技术、半导体等等领域,都需要与欧美发达国家*接轨的仪器设备平台来实现。飞凯曼科技公司有幸成长在这个科技创造未来的年代,我们愿意化为一座桥梁,见证中国科技水平的提升,与中国科技共同飞速成长。

主要产品:

1.飞秒激光元件
飞秒激光反射镜、飞秒激光透镜、飞秒激光棱镜、飞秒偏振光学器件、飞秒非线性激光晶体

2.非线性光学和激光晶体
BBO晶体, LBO晶体, KTP晶体, KDP晶体, DKDP晶体, LiIO3晶体, LiNbO3晶体, MgO:LiNbO3晶体, AGS晶体 (AgGaS2晶体), AGSe晶体 (AgGaSe2晶体), ZGP (ZnGeP2) 晶体, GaSe晶体, CdSe晶体等。Nd:YAG晶体, Nd:YVO4晶体, Nd:KGW晶体, Nd:YLF晶体, Yb:KGW晶体, Yb:KYW晶体, Yb:YAG晶体, Ti:Sapphire晶体, Dy3+:PbGa2S4晶体等
晶体恒温炉、晶体温控炉等

3.普克尔斯盒及驱动
KTP普克尔斯盒、DKDP普克尔斯盒、BBO普克尔斯盒、高重复频率普克尔斯盒驱动和高压电源、低重复频率普克尔斯盒驱动和高压电源、普克尔斯盒支架等

4. Nd:YAG激光器元件
Nd:YAG激光反射镜、Nd:YAG激光棱镜、Nd:YAG激光窗口、Nd:YAG激光偏振片、Nd:YAG激光晶体等

5.激光器和激光器模块
连续半导体激光器、连续DPSS激光器、调Q DPSS激光器、超快光纤激光器等

6.光学元器件
光学材料、光学镀膜、介质镜、金属镜、激光器窗口、棱镜、光学滤光片、光学柱面镜、偏振镜、紫外和红外光学元件

7.光学整形系统
高斯光转平顶光光束整形系统、扩束镜、F-Theta镜(聚焦镜)、望远镜、可调激光衰减器、可变光圈、精密空间滤光片、束流捕捉器

8.光学精密位移机构
防震桌、光学支架、光学导轨、固定座、光学固定、光学定位、传输和定位台、自动定位和控制器等

9.半导体激光器
高功率半导体激光器、波长稳定的半导体激光器、单频半导体激光器、光纤耦合半导体激光器、光纤激光器、波长可调谐单频激光器

10.铒玻璃
掺铒磷酸盐激光玻璃、铒玻璃、铒镱共掺激光玻璃、1550nm激光器、人眼安全激光器

11. DPSSL激光谐振腔设计软件和数据库

12. F-P扫描干涉仪

13.应力测试仪
日本UNIOPT公司应力双折射测量系统、光弹性模量测试系统、应力测试系统、磁光克尔效应(MOKE)测试仪、薄膜残余应力测试仪。应力双折射测试仪、应力测试仪、应力分析仪、偏振相机

14.精密划片机
日本APCO公司手动精密划片机、自动精密划片机。日本NDS公司半自动自动划片机、贴膜机、UV解胶机、清洗机、晶圆划片(切割)刀、电畴划片刀、陶瓷划片刀、金属烧结划片刀、树脂划片刀等

15.材料表征仪器
霍尔效应测试仪、变温霍尔效应测试仪、低温霍尔效应测试仪、塞贝克效应测试仪、低温探针台、变温探针台、椭偏仪、少子寿命测试仪、深能级瞬态谱仪

霍尔效应测试仪,塞贝克热电效应测试仪,高低温真空探针台,少子寿命测试仪,深能级瞬态谱仪,普克尔盒驱动,非线性晶体,红外晶体,光学元件
北京飞凯曼公司提供光子晶体探测器型椭偏仪。这种光子晶体探测器型的是有日本PHL公司*,并应用到的测试中。日本PHL公司在光子晶体的研究和制造领域*世界,由此开发出的光子晶体探测器型具有测试速度快、测量准确、免维护、价格低廉等特点已经在光学薄膜、半导体薄膜、有机薄膜等领域有着广泛的应用。该可快速准确测量薄膜的厚度和折射率的分布。
椭偏仪 产品信息

北京飞凯曼公司提供光子晶体探测器型椭偏仪。这种光子晶体探测器型的椭偏仪是有日本PHL公司*,并应用到的测试中。日本PHL公司在光子晶体的研究和制造领域世界,由此开发出的光子晶体探测器型具有测试速度快、测量准确、免维护、价格低廉等特点已经在光学薄膜、半导体薄膜、有机薄膜等领域有着广泛的应用。该可快速准确测量薄膜的厚度和折射率的分布。

相比传统的光谱型,光子晶体探测器型避免了探测器的机械运动。使得测试速度更快、测试更加准确、成本更加低廉。

SE-101SE-102型都是经济小巧的桌面式,SE-101主要用于薄膜的单点测量,SE-102则可进行点、线和面的测量。该系列设备使用简单,免维护,价格低廉,特别适合于实验室和工艺线的在线膜厚检测。

技术规格:

 

型号

SE-101

SE-102

重复性精度

0.1nm(厚度),0.001(折射率)

测量速度

0.05/

光源

636nm半导体激光器

测量点尺寸

1mm2

点线测量:0.5mm2

面测量:0.1mm2

入射角

70

样品尺寸

4英寸

4英寸,1轴自动,2轴手动

仪器尺寸和重量

250x175x218.3mm/4Kg

300x235x218.3mm/9Kg

数据接口

RS-232C,千兆以太网

电源

AC100-240V(50/60Hz)

软件

SE-View

 

详细信息请咨询我们。

同类产品推荐
在找 椭偏仪 产品的人还在看

提示

×

*您想获取产品的资料:

以上可多选,勾选其他,可自行输入要求

个人信息: