CCIT阳性样品制备服务

【背景】 

为了帮助用户更好的验证现有的色水法、微生物挑战法的灵敏度，或者验证新方法真空衰减法、激光法、高压放电法的灵敏度，上海众林提供CCIT阳性样品制备服务。

【关于激光打孔技术】

主要采用的阳性样品制备技术---激光打孔技术，是美国FDA*的，USP1207引用的阳性样品制备技术。

激光打孔技术相比其他阳性样品制备方法的优势在于：漏孔几何形状和内部气体流动行为接近真实缺陷，激光打孔产生的泄漏通道是不规则的曲折通道，非常接近真实的缺陷。

每一个漏孔都有配置漏孔校验证书，确保漏孔尺寸可追溯。当前，激光打孔技术在硬质玻璃或塑料材质上小可打的孔径大约是3um，如果更小的孔很容易被环境的灰尘杂质堵塞。

新修订的美国药典USP 1207.2包装完整性泄漏测试技术（也称为容器密闭完整性测试技术（CCIT））将检漏方法分类为确定性的方法和概率性的方法，其中真空衰减法、高压放电法和激光顶空分析方法是确定性的方法，而传统的微生物侵入法和色水法是概率性的方法。现有的FDA等法规更倾向于采用经验证的物理定量的测试方法，也就是USP 1207.2里面提到的确定性的方法。上海众林拥有真空衰减法、高压放电法和激光顶空分析等确定性的*测试技术，并且为客户产品提供定制的技术解决方案，其宗旨是帮助客户顺利通过FDA审查和欧盟审查。

CCIT阳性样品制备服务

方法介绍：

1、高压放电法：高压放电泄漏检测技术是一种离线实验室检漏仪器，它利用HVLD泄漏检测技术，检查个别样品的包装完整性。 HVLD*可以对样品非破坏性，非接触式，非侵入性检漏，且没有必要准备试验样品。包装/容器的材料必须是不导电（玻璃，塑料，聚层压板）。 HVLD可以用于液体产品的检漏，包括悬浮液，乳液和蛋白产品种类繁多。 HVLD已被证明是一个高度敏感的药品包装（预充式注射器，充满液体瓶，吹塑填充密封容器，输液袋等装满液体袋）各类泄漏测试方法。

2、真空衰减法：密封测试仪连接到一个特别设计用来容纳需要被测试的包装的测试腔。包装被置于要被抽真空的测试腔内。双传感器技术不仅用来监测真空度同样也监测预定测试时间段中的真空变化。真空和真空差压的变化暗示了当前包装中存在泄漏。一项测试的灵敏度取决于传感器的灵敏度、包装的形式、包装测试时的夹具以及测试中的关键参数：时间和压力。测试系统可以设置人工或自动操作。这种检测方式适合实验室离线操作和质保/质检部门数据过程控制。整个过程仅仅用时几秒钟，测试结果非常客观，而且测试对产品和包装是无损的。

3、激光法：激光法方法作为美国药典<1207>推荐的检测方式，在制药领域应用广泛。美国Lighthouse--*激光法测试专家，在美国食药监FDA的资助下研发出激光二极光谱原理FMS系列设备。通过O2、CO2、水分/压力的参数变化来判断药品包装是否存在泄漏。激光法原理是通过近红外激光产生的光线被分别调整至与氧分子、水分子、CO2的内部吸收频率相匹配，穿过产品上方顶空部分，根据被吸收的激光量与顶空中的物质浓度比例来判断。三套系统皆可安装在手推车，在不同的灌装线之间滚动，进行在线工艺检测和故障排查活动，或者也可将该系统安置于实验室中，用于产品开发、出厂测试和QC抽查。激光法检漏方法在制药领域的应用包括：无损残氧分析、无损真空度测试、容器密封完整性测试，产品稳定性研究，货架期研究，渗透性研究等。

以上方法遵循 USP<1207>技术要求及ASTM F3287-17测试标准，符合 FDA、GMP及CDE关于CCIT法规要求。