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双折射（应力）测量系统 EXICOR-SYSTERMS

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公司名称北京昊然伟业光电科技有限公司
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所在地北京市
厂商性质其他
更新时间2022/10/26 14:15:24
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公司介绍主营产品

　　北京吴然伟业光电科技有限公司成立于2010年，专业代理欧美(德国、瑞士、美国、波兰等)高精度的光学检测设备，致力于为科研和工业客户提供光学检测解决方案及包括售前、售中及售后在内的全服务。主要包括:光学检测产品:应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射仪、非接触式测厚仪、测角仪、激光损伤阈值测试系统、光学表面质量检测系统、可调相位延迟波片等;激光检测产品:激光功率计、能量计、光束质量分析仪、M2测试仪等;集成系统所需的激光器、步进位移平台、偏振光转换器等显微系统所需的XYZ电动载物台、波片进片机、高速相机ICCD、像增强器300ps门控时间、FLIM、高精度脉冲延时器等。值得一提的是，近年来公司科研团队自主研发PCI弱吸收测量仪，CRD光腔衰荡法高反测量仪，偏心曲率测量仪等产品，为今后的发展壮大奠定了坚实的基础。OPCROWN PHOTONICS Company Limited (OPCROWN) was founded in 2010, which markets and distributes globally sourcedproducts and services into the Photonics markets of China, committed to providing scientific research and industrial clientswith optical detection solutions and services including pre -sales, in-sales and after-sales. Main products include :Optical detection Instruments:Goniometer, Thickness, Birefringence, Refractive index , Absorption Reflectivity, Scattering, Retardation,GDD etc.Laser detection Instruments:Power/Energy Meter, Beam Profile, M2, etc;Laser, microbench, positioning systems, mirror mounts, Polarized Converter,etc;XYZ electric stage, ICCD, Image Intensifier, FLIM,etc.It is worth mentioning that the company's scientific research team independently developed the PCI absorption measuringinstrument, CRD high reflectivity measuring instrument, eccentric curvature instrument etc. The relevant indicators havereached the international advanced level, laying a solid foundation for the future development and expansion.

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应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射仪、非接触式测厚仪、测角仪、激光损伤阈值测试系统、光学表面质量检测系统

产品简介在线询价

Exicor测量通过正在研究的光学样品沿着光路积分的延迟。它旨在测量并显示延迟轴的大小和方向。的设计（申请中）消除了光学系统中的移动部件，并避免了在测量角度之间切换的必要性。氦氖激光束被偏振，然后被PEM调制。调制后的光束通过样品传输并分配一个分光镜。每束光束通过分析仪、光学滤光片和光电探测器的组合。电子信号通过一个锁定放大器处理，提供非常低的信号检测。

双折射（应力）测量系统 EXICOR-SYSTERMS 产品信息

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双折射（应力）测量系统 EXICOR-SYSTERMS

概述

Exicor®双折射测量技术于1999年推出，型号为150AT，为客户提供技术*，具生产价值的测量双折射的能力。Exicor系统的高灵敏度是Hinds Instruments的PEMLabs™技术的产品，该技术推出了超低双折射光弹性调制器（PEM）。PEM的调制纯度增强了Exicor屡获殊荣的灵敏度，这是调制器的谐振特性的结果。 PEM的调制频率为50 kHz，提供快速测量功能。双检测器光学系统的设计与PEM科学相结合，提供了一个重要特性：光学系统中没有移动部件。移动部件的缺失产生高机械可靠性以及测量的可重复性，并允许同时测量幅度和角度。Exicor测量通过正在研究的光学样品沿着光路积分的延迟。它旨在测量并显示延迟轴的大小和方向。的设计消除了光学系统中的移动部件，并避免了在测量角度之间切换的必要性。氦氖激光束被偏振，然后被PEM调制。调制后的光束通过样品传输并分配一个分光镜。每束光束通过分析仪、光学滤光片和光电探测器的组合。电子信号通过一个锁定放大器处理，提供非常低的信号检测。

由Hinds仪器公司开发的软件算法将来自电子模块的信号电平转换为可以确定线性双折射的参数。计算机从两个输入中选择，允许从两个信号通道进行连续测量。分析数据，然后显示延迟大小和轴角度并存储在文件中。当在自动映射模式下操作时，x-y平移阶段将把样本移动到下一个预定的测量位置。结果以用户的格式即时显示。

EXICOR故事

多年来，交叉偏振器代表了双折射测量技术的新水平，研究人员以及质量控制专业人员都可以使用。虽然这个1或2 nm的灵敏度水平有时足够了，“像素”量化，计量水平重复性和统计数据分析能力缺失。 Hinds 仪器公司研发恩怨利用光弹性调制技术的二十多年经验，将这个相对快速（50 kHz），非机械，几乎纯正弦的“偏振切换器”应用于双折射测量挑战。与传统测量方法相比，结果是测量灵敏度数量级的两倍，有时甚至提高了三倍。这项技术已被广泛发布和记录。交钥匙式Exicor系统使双折射测量变得直观和简单。它的个软件允许对双折射数据进行多重视图和统计分析。