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弱吸收仪-共光路干涉吸收仪

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称北京昊然伟业光电科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地北京市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2022/10/26 14:23:46
  • 访问次数443
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  北京吴然伟业光电科技有限公司成立于2010年,专业代理欧美(德国、瑞士、美国、波兰等)高精度的光学检测设备,致力于为科研和工业客户提供光学检测解决方案及包括售前、售中及售后在内的全服务。主要包括:光学检测产品:应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射仪、非接触式测厚仪、测角仪、激光损伤阈值测试系统、光学表面质量检测系统、可调相位延迟波片等;激光检测产品:激光功率计、能量计、光束质量分析仪、M2测试仪等;集成系统所需的激光器、步进位移平台、偏振光转换器等显微系统所需的XYZ电动载物台、波片进片机、高速相机ICCD、像增强器300ps门控时间、FLIM、 高精度脉冲延时器等。值得一提的是,近年来公司科研团队自主研发PCI弱吸收测量仪,CRD光腔衰荡法高反测量仪,偏心曲率测量仪等产品,为今后的发展壮大奠定了坚实的基础。OPCROWN PHOTONICS Company Limited (OPCROWN) was founded in 2010, which markets and distributes globally sourcedproducts and services into the Photonics markets of China, committed to providing scientific research and industrial clientswith optical detection solutions and services including pre -sales, in-sales and after-sales. Main products include :Optical detection Instruments:Goniometer, Thickness, Birefringence, Refractive index , Absorption Reflectivity, Scattering, Retardation,GDD etc.Laser detection Instruments:Power/Energy Meter, Beam Profile, M2, etc;Laser, microbench, positioning systems, mirror mounts, Polarized Converter,etc;XYZ electric stage, ICCD, Image Intensifier, FLIM,etc.It is worth mentioning that the company's scientific research team independently developed the PCI absorption measuringinstrument, CRD high reflectivity measuring instrument, eccentric curvature instrument etc. The relevant indicators havereached the international advanced level, laying a solid foundation for the future development and expansion.
应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射仪、非接触式测厚仪、测角仪、激光损伤阈值测试系统、光学表面质量检测系统
PCI弱吸收仪特点:精度高: 1 ppm;一次测量可以区分体、面吸收;扫描速度快(几分钟);对样品规格要求不高;操作方便、简单。
弱吸收仪-共光路干涉吸收仪 产品信息
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弱吸收-共光路干涉吸收仪

测量原理

右图,Pump 光(泵浦光)为一束光束质量较好的强激光聚焦到待测样品上,光吸收的存在将在样品内部产生热波,从而在样品内部形成周期性的梯度折射率分布,即热透镜效应,当一束Probe beam(探测光)经过热透镜效应区域与pump光相交时,探测光在该焦点处波前发生畸变引起点衍射共路干涉,并产生周期性相位畸变信号。探测器通过探测其相位畸变情况并由锁相放大器信号处理,最后由软件计算显示出待测样品的吸收值。

PCI弱吸收仪特点:

  • 精度高: 1 ppm;
  • 一次测量可以区分体、面吸收;
  • 测量方式:透射式、反射式(可选)
  • 扫描速度快(几分钟);
  • 对样品规格要求不高;
  • 操作方便、简单。

PCI弱吸收仪应用领域:

  • 光学薄膜;
  • 光学晶体材料;
  • 光学镜片。

PCI弱吸收仪性能

  • 测量晶体(LBO、YVO4、KTP…)或光学产品(K9、BK7、UVFS…)内部材料的弱吸收(体吸收);
  • 测量晶体或光学产品的表面吸收或薄膜吸收。

PCI 指标说明

项目
参数说明
pump波长
1064nm
测量精度
1064nm:面吸收:1ppm;体吸收:1ppm/cm
样品规格
方形、圆形均可
最小尺寸(mm):3x3x3;
尺寸(mm):50x50x50;150x150x50
可定制样品尺寸
扫描分辨率
10ms单次,10um-4mm/s扫描
测试速度
常规2min/片(相对6mm厚度)
区分体、面吸收
一次测量可以区分体、面吸收
软件扫描功能
AbMat-1D: 一维逐点扫描
AbMat-2D: 二维吸收立体扫描
扫描方式
长度/面/时间扫描

PCI 配置说明

1.光源
Probe光源
632nmHe-Ne 激光器()
-功率:2mw
-功率稳定性:<>
-发散角:1.3mrad
-偏振比:500:1
Pump光源
#1064nm 光纤激光器
-平均功率: 20W(CW)
-光束质量M2:<>
-功率稳定性:<2%(超过5 小时)
-偏振:随机
-制冷方式:风冷
-偏振光系统
2.探测部分
含锁相放大器、光斩波器、探测器、功率计、二维调整架等。
3.载物台部分
含三维步进电机、样品支架等
4.光学元件部分
反射镜、透镜、功率调节器等
5.软件部分
实时数据采集,自动保存,数据分析等。
一维逐点扫描
二维吸收立体扫描
6.其它说明
建议设备安装在超净间环境;
建议配UPS电源。

测量结果及仪器实物图

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