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弱吸收-共光路干涉吸收仪
测量原理
右图,Pump 光(泵浦光)为一束光束质量较好的强激光聚焦到待测样品上,光吸收的存在将在样品内部产生热波,从而在样品内部形成周期性的梯度折射率分布,即热透镜效应,当一束Probe beam(探测光)经过热透镜效应区域与pump光相交时,探测光在该焦点处波前发生畸变引起点衍射共路干涉,并产生周期性相位畸变信号。探测器通过探测其相位畸变情况并由锁相放大器信号处理,最后由软件计算显示出待测样品的吸收值。
PCI弱吸收仪特点:
- 精度高: 1 ppm;
- 一次测量可以区分体、面吸收;
- 测量方式:透射式、反射式(可选)
- 扫描速度快(几分钟);
- 对样品规格要求不高;
- 操作方便、简单。
PCI弱吸收仪应用领域:
- 光学薄膜;
- 光学晶体材料;
- 光学镜片。
PCI弱吸收仪性能
- 测量晶体(LBO、YVO4、KTP…)或光学产品(K9、BK7、UVFS…)内部材料的弱吸收(体吸收);
- 测量晶体或光学产品的表面吸收或薄膜吸收。
PCI 指标说明
项目 | 参数说明 |
pump波长 | 1064nm |
测量精度 | 1064nm:面吸收:1ppm;体吸收:1ppm/cm |
样品规格 | 方形、圆形均可 最小尺寸(mm):3x3x3; 尺寸(mm):50x50x50;150x150x50 可定制样品尺寸 |
扫描分辨率 | 10ms单次,10um-4mm/s扫描 |
测试速度 | 常规2min/片(相对6mm厚度) |
区分体、面吸收 | 一次测量可以区分体、面吸收 |
软件扫描功能 | AbMat-1D: 一维逐点扫描 AbMat-2D: 二维吸收立体扫描 |
扫描方式 | 长度/面/时间扫描 |
PCI 配置说明
1.光源 | Probe光源 632nmHe-Ne 激光器() -功率:2mw -功率稳定性:<> -发散角:1.3mrad -偏振比:500:1 Pump光源 #1064nm 光纤激光器 -平均功率: 20W(CW) -光束质量M2:<> -功率稳定性:<2%(超过5 小时) -偏振:随机 -制冷方式:风冷 -偏振光系统 |
2.探测部分 | 含锁相放大器、光斩波器、探测器、功率计、二维调整架等。 |
3.载物台部分 | 含三维步进电机、样品支架等 |
4.光学元件部分 | 反射镜、透镜、功率调节器等 |
5.软件部分 | 实时数据采集,自动保存,数据分析等。 一维逐点扫描 二维吸收立体扫描 |
6.其它说明 | 建议设备安装在超净间环境; 建议配UPS电源。 |
测量结果及仪器实物图