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弱吸收仪-LID光热偏转技术弱吸收仪

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  • 公司名称北京昊然伟业光电科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地北京市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2022/10/26 14:29:51
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  北京吴然伟业光电科技有限公司成立于2010年,专业代理欧美(德国、瑞士、美国、波兰等)高精度的光学检测设备,致力于为科研和工业客户提供光学检测解决方案及包括售前、售中及售后在内的全服务。主要包括:光学检测产品:应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射仪、非接触式测厚仪、测角仪、激光损伤阈值测试系统、光学表面质量检测系统、可调相位延迟波片等;激光检测产品:激光功率计、能量计、光束质量分析仪、M2测试仪等;集成系统所需的激光器、步进位移平台、偏振光转换器等显微系统所需的XYZ电动载物台、波片进片机、高速相机ICCD、像增强器300ps门控时间、FLIM、 高精度脉冲延时器等。值得一提的是,近年来公司科研团队自主研发PCI弱吸收测量仪,CRD光腔衰荡法高反测量仪,偏心曲率测量仪等产品,为今后的发展壮大奠定了坚实的基础。OPCROWN PHOTONICS Company Limited (OPCROWN) was founded in 2010, which markets and distributes globally sourcedproducts and services into the Photonics markets of China, committed to providing scientific research and industrial clientswith optical detection solutions and services including pre -sales, in-sales and after-sales. Main products include :Optical detection Instruments:Goniometer, Thickness, Birefringence, Refractive index , Absorption Reflectivity, Scattering, Retardation,GDD etc.Laser detection Instruments:Power/Energy Meter, Beam Profile, M2, etc;Laser, microbench, positioning systems, mirror mounts, Polarized Converter,etc;XYZ electric stage, ICCD, Image Intensifier, FLIM,etc.It is worth mentioning that the company's scientific research team independently developed the PCI absorption measuringinstrument, CRD high reflectivity measuring instrument, eccentric curvature instrument etc. The relevant indicators havereached the international advanced level, laying a solid foundation for the future development and expansion.
应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射仪、非接触式测厚仪、测角仪、激光损伤阈值测试系统、光学表面质量检测系统
弱吸收的意义在高功率激光系统中,光学镜片的膜层及体材料吸收较大的话会引起以下热透镜效应进而产生一系列问题: 1.如下图所示的焦距发生变化 2.波前畸变 3.退偏 4.膜层吸收是影响薄膜损伤阈值 的一个重要指标
弱吸收仪-LID光热偏转技术弱吸收仪 产品信息
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弱吸收仪测量意义

在高功率激光系统中,光学镜片的膜层及体材料吸收较大的话会引起以下热透镜效应进而产生一系列问题:
1.如下图所示的焦距发生变化
2.波前畸变
3.退偏
4.膜层吸收是影响薄膜损伤阈值 的一个重要指标

LID原理示意图

此系统采用光热偏转技术,用于测量透明光学材料及镀膜产品受到激光照射后产生的微弱吸收。在强激光照射下,材料内部由于吸收热能产生折射率梯度现象(热透镜效应),当一束探测光经过“热透镜”效应区域时发生位置偏移,通过PSD位移传感器测量其位置偏移量。

LID结构图


LID技术参数一览表

项目 LID
仪器原理 光热偏转技术
Pump激光器 UV到IR常见激光波长任选
光束质量要求不高,可以同时配置多台激光器
不同波长光路切换简单
Probe激光器 LD 640nm
仪器校准 电极校准 体吸收:样品中间钻孔放置棒型热敏电 面吸收:表面放置热敏电阻
测试项目 体吸收、HR及AR膜吸收

LID与PCI比较一览表

项目 LID
样品属性要求 任何未知样品或已知样品
测试结果 吸收系数是值
区分面、体吸收 可以
样品规格 方形,且四面抛光(采用sandwich模块只需两面抛光);
圆形:厚度1mm,φ25.4mm min:3x3x3mm(采用sandwich模块)
通常:20x20x10mm
灵敏度 面吸收:0.1ppm 体吸收:0.1ppm/cm
测量速度 40min/片

LID校准-电极校准

采用电极校准得出校正因子Fcal, Ilid 为信号强度,Pl 为pump光功率。

特点:是无需了解样品材料的特性,便可提供独立校准。如果改变光热偏转系统装置,需要客户自己插入和连接校准样品,利用软件完成自动校准。

LID测量结果

关键词:传感器
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