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角分辨散射测量系统 ALBATROSS-TT散射仪

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  • 公司名称北京昊然伟业光电科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地北京市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2022/10/26 14:38:00
  • 访问次数453
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  北京吴然伟业光电科技有限公司成立于2010年,专业代理欧美(德国、瑞士、美国、波兰等)高精度的光学检测设备,致力于为科研和工业客户提供光学检测解决方案及包括售前、售中及售后在内的全服务。主要包括:光学检测产品:应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射仪、非接触式测厚仪、测角仪、激光损伤阈值测试系统、光学表面质量检测系统、可调相位延迟波片等;激光检测产品:激光功率计、能量计、光束质量分析仪、M2测试仪等;集成系统所需的激光器、步进位移平台、偏振光转换器等显微系统所需的XYZ电动载物台、波片进片机、高速相机ICCD、像增强器300ps门控时间、FLIM、 高精度脉冲延时器等。值得一提的是,近年来公司科研团队自主研发PCI弱吸收测量仪,CRD光腔衰荡法高反测量仪,偏心曲率测量仪等产品,为今后的发展壮大奠定了坚实的基础。OPCROWN PHOTONICS Company Limited (OPCROWN) was founded in 2010, which markets and distributes globally sourcedproducts and services into the Photonics markets of China, committed to providing scientific research and industrial clientswith optical detection solutions and services including pre -sales, in-sales and after-sales. Main products include :Optical detection Instruments:Goniometer, Thickness, Birefringence, Refractive index , Absorption Reflectivity, Scattering, Retardation,GDD etc.Laser detection Instruments:Power/Energy Meter, Beam Profile, M2, etc;Laser, microbench, positioning systems, mirror mounts, Polarized Converter,etc;XYZ electric stage, ICCD, Image Intensifier, FLIM,etc.It is worth mentioning that the company's scientific research team independently developed the PCI absorption measuringinstrument, CRD high reflectivity measuring instrument, eccentric curvature instrument etc. The relevant indicators havereached the international advanced level, laying a solid foundation for the future development and expansion.
应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射仪、非接触式测厚仪、测角仪、激光损伤阈值测试系统、光学表面质量检测系统
ALBATROSS-TT是由德国Fraunhofer IOF 研发的角分辨式散射测试系统,具有高动态范围、高灵敏度、低噪声等特点
角分辨散射测量系统 ALBATROSS-TT散射仪 产品信息
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ALBATROSS-TT是由德国Fraunhofer IOF 研发的角分辨式散射测试系统,具有高动态范围、高灵敏度、低噪声等特点。

 

 

可测量参数:角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF,双向透射分布BTDF,散射损耗,反射,透射等,且具有3D扫描功能。

测试光源:405nm,532nm,640nm等激光光源    

测试样品:光学或非光学基底和表面

                 可测样品规格重量:  1 kg

                 尺寸:  ø200 mm x 100 mm

 

指标参数:

   角度分辨率:<0.001°,

   角精度:<0.02° (2D), <0.1° (3D)

   对粗糙度的灵敏度 < 0.1 nm

   测量重复精度:优于5%

   BRDF/BTDF 测试动态范围:≥1013 @532nm

   BRDF/BTDF 最小测量值:1×10-8sr-1。

 

设备应用:

1 主要用于光学系统光机件表面的散射测量,包括双向反射分布函数(BRDF),双向透射分布函数(BTDF)和半球空间积分散射(ARS)。

2 对光学器件表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析,包括:

 产品质量分析

 光学性能分析

  粗糙度分析等

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