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非接触式测厚仪

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称北京昊然伟业光电科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地北京市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2022/10/26 14:42:13
  • 访问次数437
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  北京吴然伟业光电科技有限公司成立于2010年,专业代理欧美(德国、瑞士、美国、波兰等)高精度的光学检测设备,致力于为科研和工业客户提供光学检测解决方案及包括售前、售中及售后在内的全服务。主要包括:光学检测产品:应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射仪、非接触式测厚仪、测角仪、激光损伤阈值测试系统、光学表面质量检测系统、可调相位延迟波片等;激光检测产品:激光功率计、能量计、光束质量分析仪、M2测试仪等;集成系统所需的激光器、步进位移平台、偏振光转换器等显微系统所需的XYZ电动载物台、波片进片机、高速相机ICCD、像增强器300ps门控时间、FLIM、 高精度脉冲延时器等。值得一提的是,近年来公司科研团队自主研发PCI弱吸收测量仪,CRD光腔衰荡法高反测量仪,偏心曲率测量仪等产品,为今后的发展壮大奠定了坚实的基础。OPCROWN PHOTONICS Company Limited (OPCROWN) was founded in 2010, which markets and distributes globally sourcedproducts and services into the Photonics markets of China, committed to providing scientific research and industrial clientswith optical detection solutions and services including pre -sales, in-sales and after-sales. Main products include :Optical detection Instruments:Goniometer, Thickness, Birefringence, Refractive index , Absorption Reflectivity, Scattering, Retardation,GDD etc.Laser detection Instruments:Power/Energy Meter, Beam Profile, M2, etc;Laser, microbench, positioning systems, mirror mounts, Polarized Converter,etc;XYZ electric stage, ICCD, Image Intensifier, FLIM,etc.It is worth mentioning that the company's scientific research team independently developed the PCI absorption measuringinstrument, CRD high reflectivity measuring instrument, eccentric curvature instrument etc. The relevant indicators havereached the international advanced level, laying a solid foundation for the future development and expansion.
应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射仪、非接触式测厚仪、测角仪、激光损伤阈值测试系统、光学表面质量检测系统
Lumetrics 品牌OptiGauge系列厚度测量系统采用了短相干光源的迈克尔逊干涉仪原理。特点:1. 非接触式、非破坏性; 2. 实时在线测量或离线测量; 3. 可单次测量多层膜,可测 20 层; 4. 探针灵活配置,实现多个不同目标测量 (最多可配8个探头); 5. 测试速度快(1s) 6. 适用范围广
非接触式测厚仪 产品信息
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关键词:测厚仪 非接触式测厚仪 玻璃测厚 薄膜测厚 膜层测厚 镜片测厚


Lumetrics 品牌OptiGauge系列厚度测量系统采用了短相干光源的迈克尔逊干涉仪原理。测量原理:低相干迈克尔逊干涉仪


如图所示:


Light Source(短相干光源)发出短相干光束,经Beamsplitter分束成两束光,这两束光通过准直仪聚焦到Measurement arm(测量臂)和Reference arm(参考臂)上;
在测量臂段,光束经待测物前后两表面反射产生两束反射光;在参考臂段,光束被delay line(延迟线路)中的扫描参考镜反射。
各反射光束经光纤返回到Beamsplitter 中,此时扫描反射镜反射的光束分别与R1和R2两束光发生干涉产生两干涉信号经探测器(光电二级管)转换为电信号再由显示仪显示。参考镜位置可以精确移动,当干涉仪的测量臂与参考臂光程相等时,才能够发生干涉。这样通过监控参考镜的移动,就可以 测量被测镜的位置。

OptiGauge测厚仪特点

1. 非接触式、非破坏性;
2. 实时在线测量或离线测量;
3. 可单次测量多层膜,可测 20 层;
4. 探针灵活配置,实现多个不同目标测量 (最多可配8个探头);
5. 测试速度快(1s)
6. 适用范围广

测厚仪性能参数:

型号

OptiGauge® LT

OptiGauge II

OptiGauge EMS

测量范围(n=1.5)

12μm to 3.3 mm

12µm to 12 mm

12µm to 35 mm

测量层数

1

20

20

精度

±1μm

±0.1µm

±0.1µm

重复精度

1μm 1σ

0.1µm 1σ

0.1µm 1σ

扫描速率

50Hz

50Hz,100Hz 和200Hz可选

20Hz

光源

1310nm SLED

45nm wide

1310nm SLED

45nm wide

1310nm SLED

45nm wide

测量头工作距离

25mm and 50mm

25mm and 50mm

25mm and 50mm

光纤长度

3m,max 1000m

3m,max 1000m

3m,max 1000m

测厚仪应用领域:

Lumetrics 产品既可以提供独立的测量头,也可以集成在各种设备中,广泛应用在以下领域,

1、光电子行业:

2 、薄膜行业:测量塑料薄膜的厚度

3 、医疗行业:测量滴液管、塑料管壁厚、糖尿试纸、等

4、单件元件厚度控制(特别适用于红外材料,测量厚度控制平行度)
5 、平板玻璃厚度测试:浮法玻璃、液晶平板 透镜中心厚及胶合间隙测量

关键词:测厚仪
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