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AFM-SEM 同步联用技术(通用版)

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  • 公司名称复纳科学仪器(上海)有限公司
  • 品       牌Phenom 飞纳电镜
  • 型       号LiteScope
  • 所  在  地上海市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2025/5/27 15:28:30
  • 访问次数42
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复纳科学仪器(上海)有限公司,2012 年创立于上海,为高校,企业和研究所提供台式扫描电子显微镜,及与台式扫描电镜相关的技术支持和测试服务。复纳科学仪器(上海)有限公司成立以来,一直专注显微技术,致力于实现扫描电镜平民化。飞纳电镜——复纳科学仪器(上海)有限公司为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训,在上海、北京、广州、成都设立了测试中心和售后服务中心,目前飞纳电镜在中国已经拥有超过 2000 名用户。


2017 年起,复纳与荷兰 Sioux 集团(ASML 光刻机研发供应商)合作开发基于分析仪器的数字化应用解决方案;2018 年,复纳引入并组建以 VSParticle 纳米粒子发生器、ForgeNano 原子层沉积系统(美国)为主要产品的纳米部门。复纳又陆续引进海外优质高科技设备:Technoorg Linda 离子研磨仪、DENSsolutions 原位透射样品杆、NEOSCAN 台式显微 CT 到中国,旨在提高分析结果准确性,提升仪器使用效率,节省人力成本。





扫描电镜,电子显微镜,细胞成像分析
产地 进口 产品新旧 全新
分辨率 0.2 nm x 0.2 nm x 0.04 nm
AFM-SEM 同步联用技术(通用版)SEM 与 AFM 是亚纳米级样品分析中应用广泛且互补的两大技术。将 AFM 集成至 SEM 中可融合两者的优势,实现超高效工作流程,
完成传统 AFM 和 SEM 难以或无法实现的极限性能和复杂样品分析。
AFM-SEM 同步联用技术(通用版) 产品信息

AFM-SEM 同步联用技术(通用版)    

产品简介    

革命性的原子力显微镜(AFM),可实现与扫描电子显微镜(SEM)的无缝集成,为原位关联显微镜开辟新可能。

凭借优化设计,LiteScope AFM 兼容赛默飞世尔、TESCAN、蔡司、日立、JEOL 等主流品牌 SEM 系统及其配件,其他品牌电镜亦可定制适配。

 

测量模式:

• 机械性能:AFM,能量耗散,相位成像

• 电性能:C-AFM、KPFM、EFM、STM

• 磁性能:MFM

• 电机械性:PFM

• 光谱学:F-z

 曲线,I-V 曲线

• 相关性分析:CPEM    


   

AFM-SEM 同步联用技术(通用版)    

实用特点    

  • 原位样品表征

在 SEM 内部的原位条件下确保样品分析同时、同地、同条件下进行,并且在飞纳电镜内部也能实现原子级分辨率    

  • 精确定位感兴趣区域                

    SEM 与 AFM 原位联用,保证了同一时间、同一地点和相同条件下的分析 使用 SEM 画面,实时观测探针与样品的相对位置,为探针提供导航,精准定位            

  • 实现复杂的样品分析需求

    提供电气、磁学、光谱等多种测量模式,且能同一位置直接联用 SEM 及 EDS 功能。同时获取 AFM 与 SEM 数据,并将其无缝关联            


   


   

应用案例

钢和合金的复合分析    

利用原子力显微镜对双相钢进行复合分析,揭示了表面形貌(AFM)、铁 氧体晶粒的磁畴结构(MFM)、晶粒相比(SEM)和表面电位杂质开尔文 探针力显微分析法。 • 相关多模态分析揭示了复杂的性质 • 扫描电镜精确定位 ROI,AFM 综合分析    


   

电池的原位表征    

固态电池(SSB)比锂离子电池显示出更高的能量密度、更长的寿命和更 好的安全性。由锂镍锰钴氧化物(NMC)颗粒组成的正极胶带在手套箱中 经过 200 个周期后被打开,原位切割并使用 AFM-in-SEM 测量。    

 样品提供: Aleksandr Kondrakov, BELLA (DEU)    

• 在 CAM 横截面处对局部电导率(C-AFM)进行表征    

• 无需空气暴露即可原位制备敏感 CAM    

   


   

纳米线的先进表征    

悬挂蜘蛛丝纳米线因其机械性能而被研究,通过超精确定位AFM 尖在悬挂的纳米线上。力-距离光谱学使得确定纳米线的弹性和塑性 变形成为可能。    

样品提供: Linnea Gustafsson, KTH (SWE)    

• SEM: 精确定位 AFM 尖和纳米线变形的实时观察    

• 分析属性如杨氏模量和抗拉强度    


   

   


   


   

选配件    

纳米压痕模块    

纳米压痕模块能够在使用超高倍数扫描电子显微镜观察样品的同时进 行微机械实验,并利用 LiteScope 以亚纳米级分辨率对压痕样品进行 分析    

   

NenoCase 与数码相机    

在环境条件或不同气氛下将 LiteScope 作为独立 AFM 使用,通过数码 相机精确导航探针。    

   

样品旋转模块    

适用于 FIB 后进行 AFM 分析。此外还允许同时安装多个样品实现在不 打开 SEM 腔室的情况下即可对多个样品进行测试。    

   


   


   

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