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光波动场三次元显微镜
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2024-10-15 07:25:22
122
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MINUK可评价nm级的透明的异物・缺陷,一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息,可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦,可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。
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https://www.zyzhan.com/chanpin/4479151.html
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