详细摘要： 使用Hinds仪器公司PEM技术，该系统为一个完整的Mueller偏振计提供了高水平的灵敏度。关键词：150XT,穆勒椭偏仪，Hinds. Hinds Inst...

详细摘要： Exicor测量通过正在研究的光学样品沿着光路积分的延迟。它旨在测量并显示延迟轴的大小和方向。的设计（申请中）消除了光学系统中的移动部件，并避免了在测量角度之间...

详细摘要： Hinds Instruments 公司的2-MGEM椭圆仪是一种用于测量米勒矩阵样本的正常入射偏振反射显微镜。它可以用来评估RTISO 核燃料热解碳层的光学各...

详细摘要： LCD材料的超低阶双折射测量用于LCD的Exicor GEN系列在与光学材料制造商合作多年后，Hinds 仪器公司推出了Exicor 1500AT系统，用于测量...

详细摘要： Hinds仪器的’Exicor® 双折射测量系统PV-Si是工作平台的扩展。本系统采用高质量的对称光弹性调制器、1550 nm激光和Ge雪崩光电二极管探...

详细摘要： Hinds 仪器的Exicor双折射测量系统型号150AT是Exicor®双折射测量系统系列产品的工作平台。 该系统具有多功能性，在生产车间和研发实验室...

详细摘要： Hinds Instruments 的ExicorOIA是透镜、平行面光学、曲面光学在正常和斜入角度评估的主要双折射测量系统。该系统是建立在Hinds lnsr...

详细摘要： 仪器箱