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JXA-8530F Plus 场发射电子探针显微分析仪 详细摘要： 日本JEOL 场发射电子探针显微分析仪 JXA-8530F Plus ，采用浸没式肖特基场发射电子枪,优化了角电流密度，能利用2 A以上的大探针电流进行分析，还...
产品型号： 所在地： 更新时间：2021-07-20 参考价： 面议 在线留言 -
JEM-1000 超高压透射电子显微镜 详细摘要： JEM-1000 超高压透射电子显微镜，由于超高压透射电子显微镜的加速电压很高电子波长很短，即使增大物镜极靴之间的间隙，也能获得高分辨率的图像。此外，电子束具有...
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Sigma 300 场发射电子显微镜 详细摘要： 德国Zeiss SIGMA 300 场发射电子显微镜，Gemini镜筒，超高的束流稳定性，的低电压性能，In Lens 探测器，磁性材料高分辨观察，X射线分析设...
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KSI V300E 单探头超声波扫描显微镜 详细摘要： KSIV300E 单探头超声波扫描显微镜,X轴和Y轴驱动系统全是磁悬浮高速线性电机, X、Y轴有效扫描区域：300mm300mm,X、Y轴的重复精度：0.1um...
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V400E 单探头多用途超声波扫描显微镜 详细摘要： KSI V400E 单探头多用途超声波扫描显微镜，扫描速度可达：1000mm/s 或 2000mm/s，两种规格可选,扫描范围：400mm400mm 或 400...
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KSI v1000E 超声波扫描显微镜 详细摘要： KSI v1000E 单探头多用途超声波扫描显微镜，扫描速度：2000 mm/s, 扫描范围：1000mm700mm.
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KSI V-Octo 八探头大型超声波扫描显微镜系统 详细摘要： KSI V-Octo 八探头大型超声波扫描显微镜系统，该系统同时使用8只换能器，能限度的确保快速图像采集和高效能。扫描速度：2000 mm/s,扫描范围：100...
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KSI V-quattro四探头超声波扫描显微镜系统 详细摘要： KSI V-quattro四探头超声波扫描显微镜系统，多工系统，四探头系统，同时使用4只换能器,扫描速度：2000 mm/s, 扫描范围：1000mm700mm
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Nano型高分辨率表层缺陷超声波扫描显微镜系统 详细摘要： KSI－Nano型高分辨率表层缺陷超声波扫描显微镜系统，声学显微成像系统和光学显微成像系统的结合.换能器频率范围：100MHz2000MHz频率实现高分辨率,放...
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KSI i-Ingot型全自动晶锭分析检测系统 详细摘要： KSI－ 凯斯安i-Ingot型全自动晶锭分析检测系统，适用于对晶锭的无损检测，有了它，晶锭内部的裂缝或杂质就能得到快速检测，晶锭的尺寸可达450mm，检测时间...
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KSI i-Wafer晶圆缺陷检测系统 详细摘要： KSI i-Wafer晶圆缺陷检测系统，是一款仪器，操作人员可选择接收/拒绝标准，手动或自动检测晶圆。在KSI i-Wafer的探测下，晶圆中的孔隙、分层或者杂...
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SE 800 PV 激光椭偏仪 详细摘要： SE 800 PV 激光椭偏仪，SENTECH设计了SE 800 PV，用于表征由SiNx/SiO2、SiNx/SiNy或SiNx/Al2O3组成的多层钝化膜和...
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SE 400adv PV 激光椭偏仪 详细摘要： 激光椭偏仪SE 400adv PV.是化使用的标准仪器，用于测量PV单层防反射涂层的厚度和折射率指数。特别用于表征单晶和多晶硅太阳能电池上的SiNx 防反射单层...
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光伏测量仪器RT Inline 详细摘要： 德国Sentech光伏测量仪器 RT Inline， RT Inline薄膜反射和透射的在线监测系统，反射率、透射率和膜厚的高速在线测量是RT Inline的设...
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光伏测量仪MDPspot 详细摘要： 德国Sentech光伏测量仪MDPspot，灵活的自动扫描系统，具有成本效益的台式少子寿命测试仪MDPspot可用于表征晶片或面。它为少子寿命测量提供了一个测量...
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MDPmap光伏测量仪 详细摘要： 离线工具MDPmap是专为半导体晶片或部分工艺过的晶片的多功能、非接触和少子寿命测量而设计的。MDPmap能够连续地改变激发脉冲宽度，从非常短的脉冲(100ns...
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SENperc PV 光伏测量仪 详细摘要： ENperc PV 光伏测量仪，太阳能电池制造中的质量控制解决方案SENperc PV，是PERC电池制造质量控制的创新解决方案。SENperc PV 测量Al...
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SenSol 自动扫描薄膜测量仪器 详细摘要： 自动扫描薄膜测量仪器SenSol:SenSol是SENTECH光伏产品组合中的自动大面积扫描仪器。自动表征膜厚、薄层电阻、雾度、反射和透射的均匀性。使用SenS...
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MDPpro激动扫描仪 详细摘要： MDPpro激光扫描系统，少子寿命测量仪器的特征在于以1mm分辨率对500mm的一个面在不到4分钟内完成扫描。电阻率和少子寿命的测量*无触摸。利用微波检测光电导...
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MDPinlinescan在线寿命和电阻率逐行扫描仪 详细摘要： MDPinlinescan在线寿命和电阻率逐行扫描仪，各种不同的样品，从单晶硅到多晶硅，从生长的晶片到加工过的晶片，都可以通过MDPlinescan使用少子寿命...
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