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JEBG大功率电子枪・电源 详细摘要: 日本电子JEOL大功率电子枪・电源EBG-300UA,JEBG-1000UB,JEBG-3000UB,是用来在真空中蒸发或熔解金属及氧化物的大功率电子束发生源,...
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TP高频感应等离子体发生器 详细摘要: 日本JEOL高频感应等离子体发生器 TP,通过高频感应加热产生大约1万度的热等离子体,经过物理/化学反应过程,能合成纳米颗粒及厚膜(镀膜)。
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BS/JEBG/EBG电子枪 详细摘要: 日本JEOL BS/JEBG/EBG 系列电子枪,用于光学薄膜及电极膜等各种薄膜形成的电子束蒸镀用电子枪/电源。
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BS/JST电子枪/电源 详细摘要: 日本JEOL BS/JST系列电子枪/电源,日本JEOL BS/JST系列电子枪/电源
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BS-80020CPPS等离子体源 详细摘要: 日本JEOL BS-80020CPPS等离子体源,是用于辅助低温(100℃以下等)下塑料基板和胶片成膜的等离子体源。
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BS-80011BPG产生高密度等离子体的内置型等离子源 详细摘要: 日本JEOL BS-80011BPG产生高密度等离子体的内置型等离子源,安装在真空室内产生高密度等离子体的等离子体源。利用和真空蒸镀结合的等离子体辅助沉积技术(...
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RF-120高频电源 详细摘要: 日本JEOL RF-120系列高频电源,是溅射、刻蚀、CVD、离子镀等薄膜制备/加工使用的、用于生成等离子体的13.56MHz高频电源(RF电源)。
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TP-99010FDR 粉末供应装置 详细摘要: 日本JEOL TP-99010FDR 粉末供应装置,用气体通过管道定量输送粉末的送粉器。
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日本JEOL电子自旋共振谱仪 JES-X310,X320 详细摘要: 日本JEOL电子自旋共振谱仪 JES-X310,X320,经过进一步改良低噪音耿氏振荡器,达到了*的灵敏度。由于人们已经认识到样品中极少量的未成对电子会在很大程...
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日本RIBM HS-AFM超高速视频级原子力显微镜 详细摘要: 日本RIBM HS-AFM超高速视频级原子力显微镜,突破了 扫描成像速慢的限制,扫描速度可达 20 frame/s,并且有 4 种扫描台可供选择。样品无需特殊固...
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JNM-ECZR 系列 核磁共振谱仪 详细摘要: 日本JEOL JNM-ECZR 系列 核磁共振谱仪,是高度结合了数字技术和高频技术研制的脉冲傅里叶变换核磁共振仪。电路的高度集成化提高了谱仪的可靠性、实现了机体...
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JNM-ECZS核磁共振谱仪 详细摘要: JNM-ECZS 核磁共振谱仪,不仅具有高性能,还进一步实现了谱仪的小型化。 高级软件和自动化技术,使常规测试全部实现了自动化。超高灵敏度自动调谐探头包括了Su...
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JSX-1000S型X射线荧光光谱仪 详细摘要: 日本JEOL JSX-1000S型X射线荧光光谱仪采用触控屏操作、提供更加简便迅速的元素分析。具备常规定性、定量分析(FP法・检量线法)、RoHS元素筛选功能等...
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JIB-4700F 双束加工观察系统 详细摘要: 日本JEOL JIB-4700F 双束加工观察系统,该设备的SEM镜筒中采用了超级混合圆锥形物镜、GB模式和in-lens检测器系统,在1kV低加速电压下,实现...
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JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统 详细摘要: 日本JEOL JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统,配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。被加速了的镓离子束经聚焦照射样品后,就能对样品表面进行SIM观...
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JXA-8230 电子探针显微分析仪 详细摘要: 日本JEOL JXA-8230 电子探针显微分析仪,可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器,组合使用WDS和EDS,能提供无缝、舒适的分析环境。
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软X射线分析谱仪 详细摘要: 日本JEOL 软X射线分析谱仪,(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度X射线CCD相...
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IB-19520CCP截面样品抛光仪 详细摘要: IB-19520CCP 截面样品抛光仪,在加工过程中利用液氮冷却,能减轻离子束对样品造成的热损伤。冷却持续时间长、液氮消耗少的构造设计。在装有液氮的情况下,也能...
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IB-19530CP截面样品抛光仪 详细摘要: 日本JEOLIB-19530CP截面样品抛光仪,采用多用途样品台,通过交换各种功能性样品座实现了功能的多样化。根据需要可以选择不同的功能性样品座,不仅能截面刻蚀...
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EM-09100IS 离子切片仪 详细摘要: 日本JEOLEM-09100IS 离子切片仪,用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER样品制备的创新方法 离子切片仪制备薄膜样品比传统制...
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