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IB-09060CIS 低温冷冻离子切片仪 详细摘要: IB-09060CIS 低温冷冻离子切片仪,易受热损伤的样品,也能方便地制作出薄膜样品和截面样品。冷却保持时间长,有效地抑制了热损伤。
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JSM-7200F 热场发射扫描电子显微镜 详细摘要: JSM-7200F 热场发射扫描电子显微镜,应用了日本电子旗舰机-JSM-7800F Prime采用的浸没式肖特基电子枪技术,标配了TTLS系统(Through...
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JSM-IT500 扫描电子显微镜 详细摘要: 日本JEOL JSM-IT500 扫描电子显微镜,是JEOL InTouchScope系列的新机型。 从设定视野到生成报告,用于分析的软件整合于一体,加快了作业...
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JED-2300/2300F 能谱仪 详细摘要: JED-2300/2300F 能谱仪,是以图像观察和分析 为基本理念的TEM/EDS集成系统。通过与SEM的马达驱动样品台联动使用,可以进行大范围的观察和分析。...
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Serial Block-face SEM 3View 发射扫描电子显微镜 详细摘要: Serial Block-face SEM 3View 发射扫描电子显微镜,肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针,与3View2XP(...
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JSM-7900F 热场发射扫描电子显微镜 详细摘要: JSM-7900F 热场发射扫描电子显微镜,它继承了上一代广获好评的性能如*的空间分辨率、高稳定性、多种功能等的同时,操作性能极大简单化。该设备不依赖操作者的技...
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JSM-IT500HR 扫描电子显微镜 详细摘要: 日本JEOL JSM-IT500HR 扫描电子显微镜,采用了新开发的高亮度电子枪和透镜系统,因而能获得令人惊叹的高画质图像。即使对实时图像,也能轻松地在CCD图...
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JSM-7610FPlus 热场发射扫描电子显微镜 详细摘要: JSM-7610FPlus 热场发射扫描电子显微镜,实现了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的进一步提升,采用半浸没式物镜和High Power O...
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JSM-IT200 InTouchScope 扫描电子显微镜 详细摘要: JSM-IT200 InTouchScope 扫描电子显微镜,是一款更简洁、更易于使用且性价比高的扫描电子显微镜。
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JCM-7000 NeoScope™ 台式扫描电子显微镜 详细摘要: JCM-7000 NeoScope 台式扫描电子显微镜,是以谁都可以操作的SEM/EDS为理念的台式扫描电子显微镜, 标配Zeromag、Live analys...
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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜 详细摘要: 日本JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜,实现了高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,...
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JEM-F200 场发射透射电子显微镜 详细摘要: JEM-F200 场发射透射电子显微镜,以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系...
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JEM-2100Plus 透射电子显微镜 详细摘要: 日本电子JEM-2100Plus 透射电子显微镜,不仅拥有信誉的JEM-2100 的电子光学系统,还增加了的控制系统,大幅提高了可操作性。 多功能电子显微镜JE...
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JEM-3200FS场发射电子显微镜 详细摘要: JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了加速电压为300kV的场发射电子枪(FEG)和镜筒内置式型能量过滤器,能为广泛的研究领域提供各种全新的解决方案。
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EM-05500TGP TEM断层扫描系统 详细摘要: 日本电子JEOL EM-05500TGP TEM断层扫描系统,采用*算法的软件,实现了从获取连续倾斜图像到三维重构整个过程的自动化。
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JED-2300T 能谱仪 详细摘要: JED-2300T能谱仪是以图像观察和分析为基本理念的TEM/EDS集成系统。在分析数据过程中,自动采集电镜主机的倍率、加速电压等参数,进行数据管理。
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半导体测试探针台:KUP007,EMP100C,EMP100B,EMP50S 详细摘要: 半导体测试探针台:KUP007,EMP100C,EMP100B,EMP50S
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美国 MMR 霍尔效应测量系统 H5000 详细摘要: 美国 MMR 霍尔效应测量系统 H5000,霍尔效应测量系统主要用于研究光电材料的电学特性,利用范德堡测量技术测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电...
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韩国Ecopia霍尔效应测量系统HMS3000,HMS5000 详细摘要: 韩国Ecopia霍尔效应测量系统HMS3000,HMS5000,主要用于研究半导体材料/光电材料的电学特性,可以测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、...
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TEK Keithley 4200A-SCS 泰克半导体参数分析仪 详细摘要: TEK Keithley 4200A-SCS 泰克半导体参数分析仪,可将检定和测试设置的复杂程度降低高达 50%,提供清晰且不折不扣的测量和分析功能。 另外,嵌...
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