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椭偏仪 FE-5000/5000S
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2024-10-15 08:05:04
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产品信息特点可在紫外和可见(250至800nm)波长区域中测量椭圆参数可分析纳米级多层薄膜的厚度可以通过超过400ch的多通道光谱快速测量Ellipso光谱通过可变反射角测量,可详细分析...
图片来源:
https://www.zyzhan.com/chanpin/4479330.html
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