2022-10-26 14:05:26288
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HindsInstruments的ExicorOIA是透镜、平行面光学、曲面光学在正常和斜入角度评估的主要双折射测量系统。该系统是建立在Hindslnsrtuments获奖光弹调制器（PEM）基于Exicor®双折射测量技术。新一代的双折射测量系统为
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